Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9014705 zu verkaufen
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EG (ELECTROGLAS) ELECTROGLAS/EG 2001X prober ist ein spezialisiertes Werkzeug zur Unterstützung der Herstellung von Halbleiterchips. Es wird häufig im Wafer-Sondierungsprozess verwendet, bei dem Chips der integrierten Schaltung (IC) auf elektrische Eigenschaften und Leistung getestet werden, bevor sie in eine größere integrierte Ausrüstung integriert werden. EG 2001 X prober ist eine computergesteuerte, multifunktionale Maschine, die eine Vielzahl von Sondierungs-, Scan- und Zuordnungsaktivitäten ausführen kann. Seine präzisen Messungen ermöglichen es Ingenieuren, raue Stellen auf einem einzelnen Chip zu identifizieren und zu debuggen. Das Gerät ist mit einer breiten Palette von Anwendungssoftware kompatibel, die für Sondierung, Test und Analyse verwendet wird. ELECTROGLAS EG2001X verfügt über einen kompakten, modularen Aufbau, der Flexibilität bei Layout und Setup ermöglicht. Es schließt einen schnelllaufenden bewegungskontrollierten toolhead ein, der direkt zum Untersuchungsarm steigt. Dieser Werkzeugkopf wurde entwickelt, um eine breite Palette von Werkzeugen zu handhaben, einschließlich Mikro-Leitungen und Nadeln. Der Tastarm ist mit einer externen digitalen Steuerung zur automatisierten Prozesssteuerung verbunden. 2001X verfügt über eine hochauflösende, automatisierte Wafer-Positioniereinheit. Diese Maschine ist in der Lage, XYZ-Bewegung, einschließlich Diagonalbewegung und Rotationen, die es dem Prober ermöglicht, schnell Fehler zu erkennen und zu messen. Das Wafer-Positionierwerkzeug sorgt dafür, dass der Prober richtig ausgerichtet ist, um die Charakterisierung des IC nach der Sondierung genau zu beurteilen. ELECTROGLAS 2001X enthält ein leistungsstarkes Abtastmodul. Dieses Modul wurde entwickelt, um die Qualität des aktiven Bereichs eines Chips automatisch zu messen und nach Anomalien zu suchen. Es ist in der Lage, Gleichmäßigkeitsunregelmäßigkeiten zu beurteilen, Dotierstoffkonzentrationen zu messen und andere Testaufgaben durchzuführen. ELECTROGLAS/EG 2001 X prober wird typischerweise in IC-Produktionslabors zur schnellen Bewertung und Debugging von integrierten Schaltungen verwendet. Mit seinen hochauflösenden Scanfunktionen und der automatisierten Prozesssteuerung ist der Prober in der Lage, genaue Wafer-Sondierungsdaten rechtzeitig bereitzustellen. Seine Benutzerfreundlichkeit macht es zu einem wertvollen Werkzeug im IC-Produktionsprozess.
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