Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9088269 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 2001X ist ein leistungsfähiger Prober für die Prüfung und Herstellung von Halbleiterscheiben. Es ist eine Hochleistungs-Wafer-Test- und Sondierungslösung, die fortschrittliche Technologie verwendet, um die Wirtschaftlichkeit zu maximieren und Ergebnisse mit maximaler Genauigkeit und Geschwindigkeit zu erzielen. EG 2001 X ist eine vollautomatische Sondenstation mit einer maximalen Sondenfläche von 11 x 11 Zoll. Es verfügt über eine motorisierte X-Y-Bühne mit einer 75mm Z-Achse Bewegung und einer Hochkraft 0-200Gramm Z-Achse Kraft Rückkopplung Ausrüstung. Die Station verfügt über einen optimierten rauscharmen Boden mit einem TTL/DC-Signalintegritätsschutzsystem, das die Signalqualität in rauschreichen Umgebungen verbessert. ELECTROGLAS EG2001X wird auch mit einer HochleistungsE-Balkenanordnungseinheit ausgestattet, die Geldstrafenlinie-Oblatenanordnungsgenauigkeit bietet. Es verfügt auch über eine patentierte Power-basierte Wafer Lebensdauer Schätzer und hat eine vollautomatisierte Kalibrierung Verfahren. Die Station ist mit einem temperaturkompensierten Stahlrahmen aufgebaut, der das Verziehen in rauen Umgebungen minimiert und flexible Sondierungslösungen für spezifische Anwendungsanforderungen bietet. Die Sondenstation ist mit einer Reihe von Kugelspitzensonden ausgestattet und verwendet fortschrittliche Software, um die Sondierungsgrenzen anzupassen und gleichzeitig genaues Feedback zu liefern. Die Sonden können auch mit einem Mehrpunkt-Linearitätsalgorithmus kalibriert werden, um eine maximale Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Ergebnisse zu gewährleisten. ELECTROGLAS/EG EG2001X integriert auch eine präzise optische Sollwertausrichtmaschine, mit der Sondenspitzen exakt auf Nanometer-Schreiblinien ausgerichtet werden können, um eine schnelle und genaue Sondierung auf dicken Wafern zu ermöglichen. EG EG2001X bietet eine vollständige Palette von erweiterten Testoptionen, einschließlich Fehleranalyse, Embedded Test, EIN und AUS Test und Charakterisierung. Es ist auch mit einem optionalen Mini-Roboter für MEMS-Gerätetest und großvolumige Sondierung ausgestattet. Das Tool ist in der Lage, automatisierte Wafer-Sondierungslösungen sowie Multi-Wafer-Sondierungslösungen für großvolumige Anwendungen bereitzustellen. Außerdem wird ELECTROGLAS 2001X mit einem Hochleistungszeitabschnittreflektometer integriert, das genaues und zuverlässiges Maß von Wellenformen an Gigahertz-Frequenzen mit der Nanosekunde-Entschlossenheit bietet. Diese Funktion ist nützlich, um digitale, analoge und gemischte Signalformen zu analysieren und die Testzeiten und Testkosten zu reduzieren. Insgesamt ist EG2001X ein effizienter und zuverlässiger Prober für Wafertests und Sondierungen. Es wird mit innovativen Technologien wie ein E-Balkenanordnungsvermögenswert, eine Präzision optisches setpoint Anordnungsmodell, eine TTL/DC-Level-Signalintegritätsschutzausrüstung, ein Hochleistungszeitabschnittreflektometer und ein fakultativer Miniroboter ausgestattet. Diese Eigenschaften, gepaart mit einer umfassenden Palette von Testoptionen, machen 2001 X zu einer idealen Lösung für anspruchsvolle Halbleitertest- und Sondierungsanwendungen.