Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9116523 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 2001X ist ein Prober, der speziell für die Prüfung auf Waferebene entwickelt wurde. Es verfügt über eine Multi-Port-Schnittstelle und eine große Probenkammer für mehrere Gerätegrößen. Der Frequenzbereich beträgt bis zu 40 GHz mit automatischer Kalibrierung für den Einsatz in Substraten mit Feinabstand oder Mischtechnik. Die Sondenkarte, die EG 2001 X antreibt, besteht aus zwei getrennten Baugruppen. Die Hauptbaugruppe ist an der Basis montiert und hält die Schütze und Netzringe fest. Die sekundäre Baugruppe ist ein Schütz-/Spitzenträger, der über der Hauptbaugruppe sitzt. Die Multi-Port-Schnittstelle ist für bis zu 25 Testsonden konfiguriert. Jede Sonde kann eingestellt werden, um den gewünschten Arbeitsbereich bereitzustellen, und die Stechnadeln können so eingestellt werden, dass sie verschiedene Arten von Maschen aufnehmen. ELECTROGLAS EG2001X arbeitet mit einer Vielzahl von Pogo-Pins für eine Reihe von Gerätegrößen und Stiftanzahlen. Es kann auch mit einer Vielzahl von Testgeräten und Generatorkarten verwendet werden, wodurch die Flexibilität des Setups maximiert wird. Der Tastkartenhalter auf der ELECTROGLAS 2001 X ist einstellbar und ermöglicht eine Feinabstimmung des Tasterkontaktes an den vom Prüfsystem oder Wafer-Handler kommenden Sonden. Das optionale Hochgeschwindigkeits-Tunnelwerkzeug beschleunigt die Testzeiten und optimiert die Ergebnisse. ELECTROGLAS/EG EG2001X wurde entwickelt, um mit fortschrittlichen Softwarepaketen zu arbeiten und in ein Produktionstestsystem integriert zu werden. Es ist mit einem speziellen Softwarepaket gebaut und unterstützt vektorbasierte Hochgeschwindigkeitstestmuster und erweiterte Fehleranalysen. Seine Unterstützung für JTAG und Hochfrequenztests macht es vielseitig genug für eine Vielzahl von Branchen, wie Automobil, Unterhaltungselektronik und medizinische Elektronik. Die große Probenkammer ermöglicht es, mehrere Gerätegrößen zu testen und den Benutzer schnell zwischen Sondenkarten auszuwählen, ohne die Sonde selbst einstellen zu müssen. Es ist ein zuverlässiges System, das eine kostengünstige Lösung für Wafer- und Substratprüfungen bietet.