Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9116534 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 2001X prober ist ein Hochgeschwindigkeits-Prüfgerät auf Waferebene, das entwickelt wurde, um präzise und hochgenaue Tests von Halbleiterbauelementen bereitzustellen. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von integrierten Schaltungsbauelementen an mehreren Knoten zu testen und zu stimmen und zu messen. EG 2001 X ist ein halbautomatisches System, das sowohl Sondierungs- als auch Handler-Technologien integriert, um Echtzeit-Feedback und Gefahrenschutz bereitzustellen. Die ELECTROGLAS EG2001X Einheit kann Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 6 Zoll aufnehmen und ermöglicht ein schnelles und einfaches Be- und Entladen von Wafern. Der Prober nutzt auch eine geschlossene thermische Regelmaschine, um stabile und wiederholbare Testergebnisse zu gewährleisten. Das Werkzeug verfügt außerdem über ein hochpräzises automatisiertes Sondenpositionierungsmodul, das die Genauigkeit von Sub-Mikron während jedes Sondenzyklus ermöglicht. Auf diese Weise wird sichergestellt, dass die Überlappung zwischen benachbarten Prüfpunkten minimiert und ein konsistenter Sondenspalt zwischen Prüfeinrichtung und Sonden erreicht wird. ELECTROGLAS/EG 2001 X verfügt zudem über eine hohe Geschwindigkeit von bis zu 902.000 Sonden pro Stunde, die kürzere Testzeiten und weniger Gesamtwafer-Zykluszeit ermöglicht. Das Modell verfügt über mehrere I/O-Pins, eine kapazitive Kopplung an jedem Stift und integrierte Pin-Fehlererkennungsfunktionen, um IC-Geräte mit hoher Dichte zu testen, ohne sie zu beschädigen. Neben den Sondierungsfähigkeiten enthält das Gerät auch einen integrierten Wafer-Handler. Dieser Wafer-Handler ist in der Lage, Wafer sicher zwischen dem Wafer-Dock und dem Tastkopf zu transportieren, um den Testdurchsatz zu maximieren. EG2001X System bietet eine äußerst zuverlässige und effiziente Testlösung, die eine Vielzahl von Wafergrößen und integrierten Schaltungsbauelementen aufnehmen kann. Die Agilentstepper und die integrierten thermischen und Pin-Fehlererkennungsfunktionen des Geräts machen es zu einer idealen Wahl für die Prüfung von Single-Düsen- und Multi-Die-ICs. Mit seinem integrierten Handler, den hochpräzisen überlappenden Testmöglichkeiten und dem schnellen und genauen Wafer-Probing-Betrieb macht es ELECTROGLAS 2001X zu einem unschätzbaren Werkzeug für die Halbleiterherstellung und das Design integrierter Schaltungen.