Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9155072 zu verkaufen
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ID: 9155072
Prober
Table: High
Operating system: Prober vision,DA (Disk)
Ring carrier: RC-2
Profiler: piston
Microscope: Olympus SZ-30
Chuck top: 6 Inch gold-ambient
Align camera: Cohu-zoom
Z Stage: PZ-150, 0.5-mil
DAR Resolution: Low
Handler type: 6 Inch belt track
Vision module: Cognex PRM-2
Power requirement: 220 Vac
Air requirement: 80 psi
Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X Prober ist ein leistungsstarkes paralleles, automatisiertes Testgerät, das für Halbleiter-Wafer-Prodding und Sondierung ausgelegt ist. Es ist ein zuverlässiges und kosteneffizientes Werkzeug, das für eine Vielzahl von Prodding-Aufgaben entwickelt wurde, einschließlich Wafer-Sonden-Tests und parametrischer Überwachung. EG 2001 X ist perfekt für Hochleistungs-Halbleitertechnologien der neuesten Generation. Der Prober bietet erweiterte Scanfunktionen, umfassende Bewegungssteuerung, flexibles Prodding und adaptive Bewegungssteuerung. Es ist mit einer Bedienoberfläche mit intuitiver grafischer Benutzeroberfläche (GUI), einer Vielzahl von Prober-Optionen und einer vollautomatischen Bedienung ausgestattet. Die Bewegungssteuerungsfunktion des Systems ermöglicht die Verwendung in verschiedenen Sondierungsanwendungen, von der automatischen Prüfung von voll gestapelten Wafern bis hin zur Durchdringung mittlerer Stifte und 3-C Sondenfunktionen. Die Bewegungssteuerung ist auch in der Lage, genaue und wiederholbare Positionen sowohl der Tastkraft als auch des Waferstummels bereitzustellen. Die Scanfunktionen von ELECTROGLAS EG2001X Prober können an die individuellen Bedürfnisse angepasst werden und umfassen mehrstufige Scanfunktionen, senkrechte Scanfunktionen und Rake-Scanning. Zusätzlich bietet es eingebaute elektrische Kalibrierfunktionen für erhöhte Genauigkeit. Das Gerät ist mit einer beschleunigten Probergenauigkeit von 4 Mikrometern ausgestattet und kann für verschiedene Arten von IC und optoelektronischen Geräten verwendet werden. Das anspruchsvolle Design der Maschine bietet mehrere weitere Funktionen wie automatische Nivellierung Unterstützung, automatische Chip-Trace und Korrektur, benutzerdefinierte Stapelerkennung, High-Speed-Signal und DC-Analyse, und eine Reihe von bequem zugänglichen externen Ports für die Steuerung mehrerer Funktionen. 2001X Prober verfügt zudem über eine extrem effiziente Werkzeugkonfiguration, die es dem Benutzer ermöglicht, das Asset für jede Anwendung auf maximale Effizienz zu konfigurieren. Darüber hinaus ist der Prober auch mit einem eingebetteten, leistungsstarken Nachbearbeitungsmodell zur Reparatur und Nachbearbeitung defekter ICs ausgestattet. Darüber hinaus bietet das Gerät professionelle Wartungs-, Datenüberwachungs-, Bildgebungs- und Druckfunktionen für eine komfortable und effiziente Datenerfassung und -analyse. Der effiziente und zuverlässige ELECTROGLAS 2001X Prober ist ein vielseitiges und wirtschaftliches Testwerkzeug für die neueste Generation von Halbleitertechnologien. Seine umfassenden Eigenschaften und Funktionen machen ihn zu einem wertvollen Kapital für Halbleiterhersteller.
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