Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9155110 zu verkaufen

ELECTROGLAS / EG 2001X
Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
2001X
ID: 9155110
Prober Table: High Operating system: Prober vision.DF (Eprom) Ring carrier: RC-2 Profiler: Piston Microscope: Olympus SZ-30 Chuck top: 6 Inch gold-ambient Align camera: cohu - black Z Stage: PZ-150, 0.5-mil DAR Resolution: High Handler type: 6 Inch belt track Vision module: Cognex PRM-2 Power requirement: 220 Vac Air requirement: 80 psi Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X ist ein Wafer-Prober, der in der Halbleiterindustrie zur Prüfung elektrischer Eigenschaften integrierter Schaltungen eingesetzt wird. Es ist eine fortschrittliche Wafer-Sondierungsausrüstung, die ein hochmodernes Design verwendet, um elektrische, mechanische und thermische Herausforderungen zu meistern. Merkmale wie gleichmäßige Düsenbelastung, feiner Partikelschutz und verbesserte Überwachbarkeit ermöglichen es, hohe Testpräzision und -ausbeute zu erreichen. EG 2001 X verfügt über einen Advanced Travel Mechanism, der aus hochpräzisen, dual-magnetischen Linearmotoren und rutschfreiem Design besteht. Hierdurch wird die durch die Kontaktkraft bedingte nachgiebige Störung beim Übergang der mechanischen Bewegung des Probers zur elektrischen Messung verringert. Gleichmäßige Düsenbelastung wird durch die Verwendung von Wolfram-Kontakt Kräfte zur Verfügung gestellt, um konstanten Druck und Kontakt während des Sondenprozesses zu gewährleisten. ELECTROGLAS EG2001X ist auch mit einem Präzisions-Mapping-System für die Thermoelement-Platzierung ausgestattet. Dies gewährleistet eine enge Temperaturregelung durch Optimierung der Platzierung von Arbeitskopf-Temperaturfühlerelementen, um die thermische Belastung gleichmäßiger zu verteilen. Dies hilft, die Stabilität der Einheit zu erhalten und die begrenzten Betriebsbereiche zu verbessern, in denen Low-Power-Chips getestet werden. EG EG2001X ist vor elektrostatischer Entladung (ESD) mit einer leitfähigen Epoxidoberfläche geschützt, wodurch Schäden an elektrischen Komponenten reduziert werden. Darüber hinaus stellen erweiterte Überwachungsfunktionen sicher, dass die Maschine während des gesamten Testprozesses optimal arbeitet. Dies kombiniert mit einem ausgeklügelten Datenerfassungstool, das eine detaillierte Analyse der Testergebnisse ermöglicht. Darüber hinaus sind erweiterte Schaltungstestfunktionen für erweiterte Prozesssteuerung enthalten. Diese Funktionen umfassen Geräteisolation und parametrische Testfunktionen, die einen tieferen Einblick in die Produktausbeute und -trends ermöglichen. Zusammenfassend ist EG 2001X ein fortschrittlicher Wafer-Prober, der durch sein modernes Design und seine Leistungsmerkmale eine hervorragende Testpräzision und Ausbeute bietet.
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