Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9155120 zu verkaufen
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ID: 9155120
Prober
Table: High
Operating system: Prober vision.CE (Eprom)
Ring carrier: RC-1
Profiler: Piston
Microscope: Olympus 99
Chuck top: 6 Inch gold-ambient
Align camera: Cohu - zoom
Z Stage: PZ-150, 0.5-mil
DAR Resolution: Low
Handler type: 6 Inch belt track
Vision module: Cognex PRM-2
Power requirement: 220 Vac
Air requirement: 80 psi
Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X Prober bietet einen umfassenden Satz von mikroelektronischen Test- und Sondierungsfähigkeiten. Dieses System bietet eine hochwertige Bedienung und Konfiguration, die eine vollständige Charakterisierung und komplexe Tests an empfindlichen ICs ermöglicht, um eine präzise Fehleranalyse zu erzielen. EG 2001 X Prober wurde entwickelt, um die Rendite zu maximieren. Es maximiert Geschwindigkeit und Genauigkeit und hält mit schnellen Änderungen in der Technologie Schritt. Der Prober verbessert Benutzerfreundlichkeit und Zuverlässigkeit durch volle Softwaresteuerung, eine intuitive grafische Benutzeroberfläche und ergonomisches Design. Der leistungsstarke In-Chuck-Controller minimiert das Signalübersprechen während des Betriebs von einer einzigen Verbindung. Es verfügt über eine genaue Servo-Bewegungssteuerung, um eine präzise Platzierung der Spitze und einen Kontakt zwischen Sonde und Flamme zu gewährleisten. Sowohl 50 als auch 100 TPI-Sonden werden unterstützt, mit verbessertem Spitzenschutz, um die Lebensdauer für einen jahrelangen zuverlässigen Betrieb zu verlängern. Ausgestattet mit 20 Kanälen unterstützt der Prober eine Vielzahl von Tests mit TestJet, TLA, festen und beweglichen Sonden, WaferJet und kundenspezifischen Sinuswellen. Darüber hinaus bietet ELECTROGLAS EG2001X 50Ghz Sondenverstärkung mit hoher Genauigkeit, Hochgeschwindigkeitsmessungen und Datenlogging-Funktionen. Datenerfassungs- und Analysefunktionen ermöglichen eine dynamische Prozessoptimierung. Erweiterte Timing-Funktionen ermöglichen schnelle Schleifen- und Schritttests. Der Hochleistungsdatenerfassungskanal des prober kann sowohl schnell gewinnen als auch Signale verlangsamen. Die Analysekarte bietet eine detaillierte Diagnose von sondierten Knoten, Strom- und Spannungstests, Wellenformüberwachung und AC/DC-Parametermessung. ELECTROGLAS 2001X Prober bietet Multi-Site-Testfunktionen, einschließlich benutzerdefinierter Timing-Pins, Scannen von Burst-Impulsen, benutzerdefinierte Tests und automatische Nummernerkennung. Der Prober verfügt auch über voll ausgestattete Analysefunktionen wie Histogramme, statistische Tests, automatisierte Vektorabbildungen und Zyklus/Programm-Timing. Protokolle und Automatisierung werden mit dem integrierten Programmierer erweitert. Es unterstützt JEDEC, Silicon Connector, TLA3000 und WaferJet Kommunikationsformate, um die Testabdeckung zu maximieren. 2001X Prober bietet automatisierte Geräteprogrammierung und eine flexible Plattform zur präzisen Fehlerisolierung - alles bei höherem Durchsatz.
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