Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9155126 zu verkaufen
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ID: 9155126
Prober
Table: High
Operating system: Prober vision.CE (Eprom)
Ring carrier: RC-1
Profiler: Piston
Microscope: Olympus SZ-30
Chuck top: 6 Inch gold-ambient
Align camera: Cohu -black
Z Stage: PZ-150, 0.5-mil
DAR Resolution: Low
Handler type: 6 Inch belt track
Vision module: Cognex PRM-2
Power requirement: 220 Vac
Air requirement: 80 psi
Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS / Z. B. 2001X ist eine schnelllaufende, mehrfunktionelle prober Ausrüstung, die für die moderne Oblatenuntersuchung und Prüfung entworfen ist. Es bietet eine breite Palette von Funktionen, darunter: berührungsloses Scannen, hochpräzise Bewegungsfähigkeit, Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung, fortschrittliche Messtechnik-Lösungen und Echtzeit-Feedback. Das System verfügt über einen dreiachsigen Wafer-Positionierer mit einem Bereich von 0,007um, so dass es in der Lage ist, eine präzise Positionierung. Die Nanometerauflösung des Probers bietet darüber hinaus eine hervorragende Genauigkeit für das Scannen und Positionieren. Ein integrierter, hochauflösender, 3-achsiger linearer Encoder sorgt für Echtzeit-Rückkopplung von Position und Bewegung des Wafers. EG 2001 X erreicht schnelles automatisiertes Scannen mit einer maximalen Abtastrate von 200kHz. Es verfügt über ein elektrisch programmierbares Sichtfeld mit einem Bereich von 0,01 bis 1000mm. Damit eignet sich der Prober für verschiedenste Anwendungen wie die Inspektion und Validierung von Wafern, Halbleiterbauelementen und Leiterplatten. Das Gerät ist mit leistungsstarker Messtechnik-Software ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, das Profil, die Position, die Größe und die Entfernungen von Wafern und Komponenten einfach zu überprüfen. Die Software bietet auch vollständige Rückverfolgbarkeit für Wafer, Komponenten und Leiterplattenschaltpläne und trägt dazu bei, dass die Maschine den Industriestandards entspricht. ELECTROGLAS EG2001X unterstützt den Anschluss von mehreren Arten von Sondenkarten und bietet eine Vielzahl von Sonden, die für verschiedene Arten von Tests verwendet werden können. Das Werkzeug ist stark erweiterbar, so dass zusätzliches Zubehör und Peripheriegeräte angeschlossen werden können. Die Software ist benutzerfreundlich und ermöglicht es Benutzern, ihre Einstellungen anzupassen, Echtzeit-Prozess-Feedback zu beobachten und Wiederholbarkeit und Genauigkeit zu gewährleisten. Insgesamt ist EG2001X ein ausgezeichnetes Prober-Asset, das hochgenaue Scan- und Positionierungsfunktionen, schnelle Datenerfassung und umfassende Messtechnik-Software bietet. Es ist auf die Anforderungen einer Vielzahl von Anwendungen ausgelegt. Mit seiner benutzerfreundlichen Software und Erweiterbarkeit ist das prober-Modell eine ideale Lösung für Halbleiter- und Leiterplattentests.
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