Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9155127 zu verkaufen
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ID: 9155127
Prober
Table: High
Operating system: Prober vision.CE (Eprom)
Ring carrier: RC-1
Microscope: Olympus SZ-30
Chuck top: 6 Inch gold-ambient
Align camera: Sony CCD
Z Stage: PZ-5, 0.5-mil
DAR Resolution: Low
Handler type: 6 Inch belt track
Vision module: Cognex PRM-2
Power requirement: 115 Vac
Air requirement: 80 psi
Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X ist ein vollautomatisierter hochpräziser Wafer-Prober zur Prüfung von Silizium-Chips und -Düsen. Es verwendet eine Grundplatte, die zwischen zwei linearen Stufen aufgehängt ist, die jeweils unabhängig voneinander mit einem automatisierten System angetrieben werden. Dadurch kann der Prober eine nadelförmige Sonde punktgenau auf der Oberfläche des Wafers an den vorgegebenen Sondenparametern exakt positionieren. Die linearen Stufen haben Übersteuerungen, um eine manuelle Übersteuerung der automatisierten Operationen zu ermöglichen. Der Prober ist mit einem Video-Display ausgestattet und kann programmiert werden, um kundenspezifische automatisierte Tests und Sondierungen bereitzustellen. Es hat eine Kamera an der Grundplatte montiert, um Chips und Stempel auf einem Wafer automatisch zu erkennen und zu identifizieren, was zeitaufwendige manuelle Ausrichtungsaufgaben spart. Der Prober verfügt über einen manuellen und automatisierten Zoom, der es ermöglicht, hohe Vergrößerungsansichten bestimmter Teile des Wafers zu erhalten. Darüber hinaus ist die computergesteuerte, einfach zu bedienende Software sowohl für erstmalige als auch für erfahrene Bediener konzipiert und ermöglicht die Einrichtung, Steuerung und Überwachung ihrer Operationen. EG 2001 X wird mit den neuesten robusten Komponenten und Engineering hergestellt, um Zuverlässigkeit und Leistung zu gewährleisten. Es wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Sondierungssystemen und Chips unterzubringen, und ist entwickelt, um eine Vielzahl von Halbleiteraufgaben wie das Testen integrierter Schaltungen, das Durchführen von Wafer-Pegel-Charakterisierung und das Sondieren von Multi-Chip-Modulen zu bedienen. Der Prober ist mit Sicherheitsmaßnahmen ausgestattet, einschließlich eines Schutzmechanismus gegen unbeabsichtigte Beschädigungen durch Stöße oder Vibrationen. Darüber hinaus sind die Lärmpegel niedrig genug für den Betrieb der menschlichen Arbeiter. Darüber hinaus bietet die Option HIGH/LOW die Flexibilität einer einstufigen Proberkonfiguration und kann gleichzeitig die höchste Abtastgenauigkeit beibehalten, um einheitliche Abtastergebnisse zu gewährleisten. Insgesamt garantiert ELECTROGLAS EG2001X prober höchste Auflösung und Genauigkeit für Wafer-Manipulationen und Sondenoperationen. Es ist ideal für High-Volume Manufacturing (HVM), da es Hochgeschwindigkeits-Wafer-Tests für die Serienfertigung bietet. Darüber hinaus ist dieser anspruchsvolle robuste Prober in Reichweite einer breiten Palette von Budgets.
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