Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9155129 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 2001X prober ist ein fortschrittliches Wafer-Prüfgerät für die Sondierung mit hoher Genauigkeit. Es ist in der Lage, komplexe Testsequenzen mit schnellem Durchsatz auszuführen, was es zu einem wesentlichen Bestandteil des integrierten Schaltungs (IC) Produktionsprozesses macht. EG 2001 X prober ist ein System der 8. Generation, bestehend aus Tastkopf, Prüfkopf, Schwingungsisolationseinheit und HF-Abschirmungen. Die Maschine ist mit hochauflösenden optischen Encodern ausgestattet, die eine genaue und wiederholbare Sondierung auf jedem Testgelände bis zu einer Auflösung von unter 1 Mikron ermöglichen. Dies macht das Tool zum Testen fortschrittlicher ICs wie Speicher, analoge und digitale Logikgeräte nützlich. Der Prüfkopf umfasst eine mechanische Bibliothek, die bis zu 16 Leiterplatten oder Dünnschichtsubstrate aufnimmt. Jede Leiterplatte kann bis zu 4500 Geräte aufnehmen. Der Testkopf beinhaltet auch eine Computersteuerung, die mit digitalen und analogen Testsystemen sowie SMUs und RCUs für eine schnelle und genaue Sondierung verbunden werden kann. Der Tastkopf ist für alle Arten von Gerätepaketen ausgelegt. Es umfasst bis zu 32 schwebende Schütze, die schnell gewechselt werden können, sowie acht Kraftsensoren mit einem Fühlbereich von bis zu 10 Newton. Der Sondenkopf umfaßt außerdem eine volle ausstoßfähige Injektionsmischkammer sowie einen Waferbruchdetektor. Das Schwingungsisolationsmodell reduziert die Verschiebung und Kraft durch Vibration, Schock, statische Ladungen und elektrostatische Entladungen. Sein patentiertes Design behält eine Low-Profile-Konfiguration bei, die minimalen Platzbedarf beansprucht und schnell auf Produktionsbedürfnisse umkonfiguriert werden kann. ELECTROGLAS EG2001X prober ist ein sehr zuverlässiges Wafer-Prüfgerät, das entwickelt wurde, um Testzykluszeiten und Ertragsraten zu verbessern und gleichzeitig die Testkosten zu senken. Das System umfasst eine Vielzahl von Funktionen, um eine genaue und wiederholbare Sondierung auf jedem Testgelände sowie eine Vibrationsisolierung und HF-Abschirmung für präzise Testergebnisse zu gewährleisten. Es ist eine ideale Lösung für fortgeschrittene IC-Tests in Serienumgebungen.