Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9171218 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 2001X ist ein Prober auf ATE-Basis, der für die Wafer-Sondierung verwendet wird. Dieser Prober wurde Ende der 1990er Jahre eingeführt und wird heute noch häufig in der Halbleiterproduktion eingesetzt. Es ist ein fortschrittliches, zuverlässiges und hochproduktives ATE-System, das sowohl für Wafer- als auch für Wafer-Level-Sondierung entwickelt wurde. Dieses System bietet viele Möglichkeiten, um Ingenieuren zu helfen, ihren Durchsatz und Ertrag zu erhöhen und gleichzeitig Ausfallzeiten und Wiederaufbereitungskosten zu reduzieren. Sie ist kompakt ausgebildet und integriert Wafer und Sondenstation in einen Rahmen und spart so Platz. EG 2001 X verfügt über eine Reihe leistungsstarker integrierter Funktionen, darunter MEMS, Laser-Interferometer und ColorView. Das MEMS bietet eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit, während das Laser Interferometer eine hohe Geschwindigkeit und Genauigkeit für Scanvorgänge bietet. Die ColourView zeigt ein Live-Bild des Wafers an und bietet eine genaue Farbe auf Pixel-für-Pixel-Basis. ELECTROGLAS EG2001X bietet auch eine breite Palette von konfigurierbaren Optionen, einschließlich programmierbarer XYZ-Bewegung, verschiedene Wafer Handhabung/Präsentation Entscheidungen, eine Vielzahl von Sondenköpfe für Fine-Pitch-Anwendungen, sowie aktive Kontakt Pinzette für kleine Signalmessungen. Darüber hinaus wird die Sondierung mit automatischen Düsen-zu-Sonden-Ausricht- und Düsen-zu-Düsen-Mechanismen sowie Kalibrier-, Betriebs- und Analysewerkzeugen erleichtert. Zusätzlich zu den erweiterten Funktionen verfügt 2001X über eine intuitive Benutzeroberfläche für schnelle Tests. Es bietet auch schnelle Testzeit, mit Integration von automatisierten Testprogrammen, genaue und wiederholbare Verbindung zu einer Vielzahl von Sonden und langfristige Datenprotokollierung für maximalen Systemdurchsatz. 2001 X wurde entwickelt, um die Anforderungen der heutigen modernen, hochmodernen Halbleiterproduktion und Testumgebungen zu erfüllen. Es bietet eine zuverlässige und kostengünstige Lösung für das Sondieren und Testen verschiedener Wafer, so dass Ingenieure alle während des Produktionsprozesses aufgetretenen Probleme schnell erkennen und beheben können.