Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9356489 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 2001X ist ein Halbleiter-Wafer-Prober, der entwickelt wurde, um die Leistung integrierter Schaltungen zu testen. Der Prober ist in der Lage, Waferoberflächen automatisiert und schnell zu sondieren. EG 2001 X arbeitet mit einem vektorbasierten Gerät, das bis zu 150 Sonden parallel scannen kann. Dadurch kann der Prober große Anzahl von Testpunkten mit extrem geringer Latenz handhaben. Mit einer Geschwindigkeit von bis zu 5 Millionen Prüfpunkten pro Sekunde bietet der Prober Präzision und Geschwindigkeit für die Serienproduktion. Der Prober wird von einem integrierten System von Motorreglern angetrieben, die eine feine Kontrolle über Position und Geschwindigkeit bieten. Dadurch kann der Prober genaue und wiederholbare Ergebnisse liefern. Darüber hinaus verfügt ELECTROGLAS EG2001X über doppelachsige Servomotoren, um sicherzustellen, dass Testvektoren innerhalb enger Toleranzen gehalten werden. Der Prober verwendet auch eine automatisierte Kalibriereinheit. Diese Maschine kann Kalibrierergebnisse verfolgen, messen und digital aufzeichnen. Darüber hinaus bietet 2001X eine eingehende Analyse von Testdaten und Wafer-Oberflächenmorphologie. Diese Funktion ermöglicht es Benutzern, Messdaten aus verschiedenen Testumgebungen zu vergleichen und tiefere Einblicke in die Schaltungsleistung zu gewinnen. ELECTROGLAS 2001X ist für einen effektiven Betrieb in einer Vielzahl von Umgebungsbedingungen konzipiert. Dazu gehören Temperaturumgebungen von - 15 ° - 55 ° Celsius und Luftfeuchtigkeit von 20% bis 80%. Darüber hinaus verfügt der Prober über ESD-, Überspannungs- und Überstromschutzmechanismen, so dass er auch in anspruchsvollen Testumgebungen zuverlässig arbeiten kann. EG EG2001X verfügt außerdem über eine Reihe von Software zur Steuerung der Sonde und zur Analyse von Testdaten. Das Tool ist kompatibel mit einer Vielzahl von Drittanbieter-Software-Anwendungen, so dass es sehr vielseitig. Alles in allem bietet der Prober leistungsstarke Leistung, Zuverlässigkeit und Vielseitigkeit für Halbleiter-Wafer-Tests.