Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9375774 zu verkaufen

Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
2001X
ID: 9375774
Wafergröße: 6"
Probers, 6".
ELECTROGLAS/EG 2001X ist ein Hochleistungsprober, der in der Halbleitergeräteprüfung und im Burn-in-Betrieb eingesetzt wird. Es ist in die ausgeklügelte Defect Map Analysis Equipment (DMAS) integriert, die den schnellen Zugriff auf die Fehlerstelle in einer Substratoberfläche ermöglicht und eine höhere Auswertungsrate während der Produktion ermöglicht. Der Prober ist mit einer flexiblen platzsparenden Konstruktion ausgebildet, die einen automatisierten Transportmechanismus zum Bewegen der Substrate zwischen Testsystem und Proberstation umfasst. Es enthält auch eine Dual-Layer-Einheit, die zwei Ebenen Sondierung und Teil-out-Tests während eines einzigen Testzyklus ermöglicht. Der Prober weist eine Bewegungsstufe mit X-, Y- und Z-Antrieben auf, die eine genaue Positionierung des Substrats zur (Z) -Prüffläche ermöglicht. Die EG 2001 X wird von einer fortschrittlichen Servopositionierungssteuerungsmaschine angetrieben, die eine wiederholbare und präzise Bewegung der Substrate gewährleistet. Dies geschieht unter Verwendung von Encodern, kapazitiven Lagern, optischen Grenzschaltsensoren und einem hochpräzisen Laserinterferometer. Der Prober enthält auch ein integriertes CAD-Tool, das eine visuelle Programmierung von Testrezepten zur Maximierung des Durchsatzes und Verringerung der Testzeit bietet. Der mit ELECTROGLAS EG2001X verwendete Sondenkopf ist in der Lage, eine breite Palette von Hochfrequenztestanforderungen zu erfüllen. Es kann mit verschiedenen Sondenstilen wie Koaxial-, Triaxial- und Pinzetten eingerichtet werden. Der Kopf ist auch mit einem fortschrittlichen Mikropositionierer ausgestattet, der feine Anpassungen während der Sondierung ermöglicht. Ein weiterer Vorteil der Anlage ist die Möglichkeit, mit einem selbstdiagnostischen Messprotokoll bis zu 256 Einzelparameter zu steuern. EG2001X Prober verfügt über eine breite Palette von Zubehör zur Verbesserung der Test- und Sondierungsoperationen. Dazu gehören SMIF-Pod für die Teilelieferung, lose Teilestifte für Durchgangslochverbindungen und verschiedene Arten von Adaptern für die Aufnahme verschiedener Arten von Substraten. Der Prober unterstützt auch eine Vielzahl von Test- und Burn-In-Produkten wie Auto Probe, Auto Test und Auto Burn-in. Insgesamt ist ELECTROGLAS/EG 2001 X ein robuster Prober mit einer Vielzahl von Funktionen, die exakte und zuverlässige Testergebnisse gewährleisten. Es ist ein wesentliches Werkzeug in der Halbleiterbauelement-Prüfung und Burn-in-Operationen.
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