Gebraucht ELECTROGLAS / EG 2001X #9398570 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 2001X ist ein multifunktionaler Prober für den Einsatz in Halbleitertest- und Analyseanwendungen. Dieser Prober bietet eine breite Palette von Fähigkeiten, einschließlich der Fähigkeit, elektrische Tests und Sondierung von integrierten Schaltungen durchzuführen, einschließlich solcher mit Feinabstandsleitungen, sowie physikalische Sondierung, einschließlich Röntgentomographie. EG 2001 X prober verfügt über eine anpassbare Hochgeschwindigkeits-Mehrachse-Stufe, mit der die Probe schnell und präzise positioniert werden kann. Es verwendet eine programmierbare grafische Benutzeroberfläche, mit der der Benutzer genau die gewünschten Positionen einstellen kann. Der Prober verfügt über einen einzigartigen kapazitiven beweglichen Kopf, der einen ausgezeichneten elektrischen Kontakt bietet, um zuverlässige Sondierungsergebnisse zu gewährleisten. Es verwendet einen piezoelektrisch angetriebenen Waferegler, um die Probe vor der Sondierung zu nivellieren. Der Wafer-Nivellierer sorgt auch für einen verbesserten Kontakt zwischen der Prüfstelle und den Sondenspitzen. Der Prober ist für bis zu acht Testkarten ausgelegt, die bequem zur Prüfung in die Maschine geladen werden können. Das Gerät ist mit einer hochauflösenden CCD-Kamera und Bildverarbeitungsfähigkeit ausgestattet, die die Manipulation von aufgenommenen Bildern ermöglicht, um sie für die Analyse geeignet zu machen. Es verfügt auch über ein optisches Mikroskop, das detaillierte Bilder der Sonden und der Teststelle liefert und eine genauere Sondierung ermöglicht. Es wird auch mit einem scannenden Hochleistungselektronmikroskop ausgestattet, das dazu fähig ist, Subpixelniveaubilder von Testseiten zum Zweck der Misserfolganalyse zu erzeugen. ELECTROGLAS EG2001X prober System wird typischerweise in Verbindung mit spezialisierten Wafer Probern wie der Agilent 9500 Serie oder dem GSI-MicroTec MMC-9000 eingesetzt. Es wird auch bei Testhandlern und anderen peripheren Geräten wie Kühlgeräten, Temperatur-/Druckreglern und Datenerfassungs-/Analysesystemen eingesetzt. Darüber hinaus ist das Gerät in der Lage, integrierte Schaltungen oder Baugruppen einzuschalten und zu testen. ELECTROGLAS/EG 2001 X prober ist ein vielseitiges Werkzeug, das sich gut für Prüf- und Analyseanforderungen von Halbleiterbauelementen eignet. Es ist in der Lage, zuverlässige Sondierungs- und Testergebnisse aufgrund der Kombination aus fortschrittlicher Hardware und benutzerfreundlicher grafischer Benutzeroberfläche zu liefern. Darüber hinaus ist die Maschine für die schnelle Einrichtung und Prüfung sowie einfache Wartung und Aufrüstbarkeit konzipiert. Das Tool bietet eine leistungsfähige und kostengünstige Lösung für jede Test- und Analyseanwendung von Halbleiterbauelementen.