Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4060 #9402442 zu verkaufen

Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
4060
ID: 9402442
Weinlese: 1994
Prober 1994 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4060 ist ein Prober, der speziell für die präzise Sondierung von mikroelektronischen Kleinbauelementen entwickelt wurde. Dieser Prober wurde zur hochpräzisen Sondierung von hochintegrierten Schaltungen und anderen Kleinchip-Geräten eingesetzt. Es ist in der Lage, 4-Zoll-Wafer und bis zu 12.500 Sonden über die 10 × 10 mm Steigung zu testen, so dass eine präzise Platzierung von Metall- und dielektrischen Testpunkten, um die Leistung jedes Geräts zu überprüfen. Das integrierte automatische Testprogramm von EG 4060 prober kann verwendet werden, um mehrere Tests mit minimalem Benutzereingriff zu sequenzieren. Es bietet programmierbare Prüfstands- und Waferpositionen sowie mehrere Bewegungssteuerungsfunktionen. Dadurch kann der Prober die Sondenposition relativ zu jedem Prüfpunkt präzise und wiederholbar messen, ohne dass manuelle Einstellungen erforderlich sind. Mit den fortschrittlichen Algorithmen von ELECTROGLAS 4060 lässt sich schnell, genau und wiederholt testen, wo eine Verbindung hergestellt werden muss. Dies reduziert Fehler durch Benutzermanipulation, reduziert die Rüstzeit und optimiert die Datumsrate. Darüber hinaus verfügt der Prober über Multi-Site-Sondierungsfunktionen, die das gleichzeitige Testen mehrerer Standorte auf einem Wafer ermöglichen. All diese Funktionen ermöglichen es Anwendern, Testdaten schnell und effizient zu produzieren. Der Prober bietet auch hochauflösende und hochgenaue Daten. Es verwendet eine erweiterte CCD-Kamera, um die Position und Form der Sonden genau zu messen, so dass eine genaue Kontaktflächenbestimmung möglich ist. Dies liefert präzise Messungen, die die Fehlleseausgabe reduzieren. 4060 ist ein zuverlässiger und effizienter Prober, der über viele Funktionen verfügt, um eine effiziente und genaue Sondierung kleiner Mikroelektronik-Geräte zu gewährleisten. Es bietet hochgenaue und wiederholbare Daten, einen schnellen Prüfstand und Wafer-Positionen, und die gleichzeitige Prüfung von mehreren Standorten auf einem Wafer. Dies bietet Anwendern präzise Testdaten und zuverlässige Leistung in einer Vielzahl von Designs.
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