Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4080 #9375666 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 4080 ist ein Prober, der für eine Vielzahl von Testanwendungen für Halbleiterbauelemente entwickelt wurde. Es ist ein fortschrittlicher, hochkonfigurierbarer In-Circuit-Prober, der eine Vielzahl von Funktionen und Funktionen bietet, um die Anforderungen einer Vielzahl von Prüfanforderungen für Halbleiterbauelemente zu erfüllen. EG 4080 verfügt über eine breite Palette von einstellbaren Sondensystemen, einschließlich vertikaler Sonden, horizontaler Sonden, Druckfedersonden und DUT-Sonden, wodurch verschiedene Arten und Größen von Halbleiterbauelementen auf ELECTROGLAS- EG4080 getestet werden können. Das System enthält auch eine Vielzahl von Scanoptionen, mit denen Benutzer in einem ausgewählten Bereich über die Oberseite des Geräts scannen und die Parameter des Scans an die spezifischen Anforderungen jedes Geräts anpassen können. Darüber hinaus unterstützt EG- EG4080 mehrere Sondierungssysteme, so dass Benutzer mehrere Sonden für mehrere Geräte steuern können, alle innerhalb desselben Systems. EG4080 verfügt auch über fortschrittliche Testanwendungen wie Temperaturzyklen und thermische Strömungstests, mit denen die Haltbarkeit von Halbleiterbauelementen unter unterschiedlichen Temperaturen und Strömungsbedingungen getestet werden kann. Es bietet auch schnelle und automatisierte Fehleranalyse-Tools, mit denen Benutzer Probleme schnell beheben und dann geeignete Korrekturmaßnahmen ergreifen können. 4080 bietet leistungsstarke Diagnose- und Programmierfähigkeitsfunktionen, einschließlich einer erweiterten Programmiersprache namens FTAS, mit der Benutzer komplexe Testpläne definieren und leistungsstarke Testdienste mit der FTAS-Sprache erstellen können. Mit fortschrittlichen Funktionen wie Networked Probing können Benutzer mehrere Prober einfach von einem einzigen PC aus steuern und überwachen, was zu einem verbesserten Testdurchsatz und größerer Testflexibilität führt. ELECTROGLAS 4080 bietet auch erweiterte Datenerfassungsfunktionen, die Anwendern helfen, während der Tests gesammelte Daten für zukünftige Referenzen und Analysen zu analysieren und aufzuzeichnen. Der Prober unterstützt auch die Gerätediagnose und das Debugging, sodass Benutzer Probleme schnell und effizient erkennen und debuggen können. ELECTROGLAS/EG EG4080 hat eine breite Palette von Anwendungen in der Prüfung verschiedener Arten von Halbleiterbauelementen und ist flexibel genug, um in einer Reihe von Testumgebungen verwendet werden. Die fortschrittlichen Eigenschaften des Probers machen es zu einer geeigneten Wahl für eine breite Palette von erweiterten Testanforderungen. Seine leistungsstarken Diagnose- und Programmierfähigkeitsmerkmale sowie seine effizienten und automatisierten Fehleranalysefunktionen machen es zu einer idealen Wahl für das Testen und Debuggen verschiedener Halbleiterbauelemente.