Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4080X #293625478 zu verkaufen
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ELECTROGLAS/EG 4080X ist ein Hochleistungsprober, der für erweiterte Wafer-Sondierungsanwendungen entwickelt wurde. Es verfügt über ein robustes mechanisches Design und eine voll integrierte Suite von Software- und Hardwarekomponenten. Der Prober eignet sich sowohl für den manuellen als auch für den automatisierten Betrieb und kann Wafer von bis zu 8 Zoll Durchmesser handhaben. Der Prober bietet einen omnidirektionalen Proberarm mit dem patentierten EGC-Steuermechanismus, der eine hohe Genauigkeit, geräuscharme und wiederholbare Sondierung ermöglicht. Der Prober verfügt außerdem über einen einstellbaren Tastkartenadapter, mit dem Benutzer problemlos zwischen jeder Sondenkarte wechseln können, ohne dass eine Neukalibrierung erforderlich ist. EG 4080 X ist mit Motoren und einer Servo-Schleifensteuerung ausgestattet, um eine präzise und wiederholbare Bewegung des Proberkopfes zu gewährleisten. Der Prober ist mit einem integrierten Betriebssystem für eine schnelle und einfache Einrichtung und Bedienung ausgestattet. Die intuitive Benutzeroberfläche bietet eine Echtzeit-Anzeige und Protokollierung von Scandaten sowie eine Bibliothek mit proberspezifischen Einstellungen. Benutzer haben die volle Kontrolle über Sondierungsparameter wie Geschwindigkeit, Beschleunigung und Kontaktkraft in den X-Y- und EGC-Achsen des Probers. ELECTROGLAS EG4080X prober eignet sich auch für fortgeschrittene Anwendungen wie Stoßdüsensondierung und Flip-Chip-Messungen. Seine programmierbare Sondenkartenanordnung ermöglicht es Benutzern, die optimale Nadel und Sondeneinheit für jede Proberanwendung einfach auszuwählen. Der Prober basiert auf EG-Instrumenten mit eingebauten Funktionen für Dichtheitsprüfung, serielle Programmierung, Prozesssteuerung und Datenerfassung. Um die Produktivität zu erhöhen, unterstützt der Prober Multi-Die-Sondierung, so dass Benutzer mehrere Stempel schnell und präzise in einem einzigen Test sondieren können. Der Prober ist für robuste Leistung und maximale Zuverlässigkeit bei anspruchsvollsten Umgebungsbedingungen ausgelegt. Die IPMI-Karte sorgt dafür, dass alle Betriebsparameter außerhalb der Toleranz schnell im Feld erfasst, identifiziert und korrigiert werden. Diese Funktion bietet auch die Möglichkeit zur Fernsteuerung des Probers. Abschließend ist ELECTROGLAS 4080X Hochleistungsprober ein fortschrittliches Wafer-Sondierwerkzeug, das sowohl manuell als auch automatisiert arbeiten kann. Es ist mit einem einzigartigen omnidirektionalen Proberarm, einer integrierten Bedienmaschine und einem einstellbaren Tastkartenadapter ausgestattet, wodurch Benutzer eine Vielzahl von Wafern und Geräten schnell sondieren können. Dieser hochzuverlässige Prober ist ideal für anspruchsvollste Probing-Anwendungen und ist die perfekte Lösung für allgemeine und fortgeschrittene Wafer-Sonden-Anforderungen.
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