Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4085 #293808892 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 4085 ist ein Prober der EG Corporation. Es ist ein zweidimensionaler, hochpräziser Prober, der zum Testen integrierter Schaltungen (ICs) verwendet wird. Die Ausrüstung kann sowohl manuell als auch vollautomatisch betrieben werden und ist in der Lage, Chips bis zu einer Größe von 7,5 mm bis 7,5 mm zu sondieren. Zu den Kernkomponenten des Systems gehören ein Scanner, ein Thermokopf und ein automatisches Wafer-Handling. Der Scanner ist ein lineares Scanner-Design, angetrieben von hochpräzisen X- und Y-Linearmotoren. Es wurde entwickelt, um die beste Leistung in Bezug auf Genauigkeit, Geschwindigkeit und Auflösung zu bieten. Je nach Anwendung kann es sowohl für kontaktlose als auch für berührungslose Tests verwendet werden. Die Auflösung des Scanners liegt bei bis zu 1 Mikron. Der Thermokopf ist für eine präzise Kontaktkraftregelung ausgelegt. Es ist eine Doppelspitzenkonstruktion mit separater unabhängiger Druckregelung an jeder Spitze. Der Thermokopf arbeitet in Verbindung mit dem Scanner, um eine präzise Ausrichtung der Kontaktsondenspitzen auf das zu prüfende Gerät zu gewährleisten. Die automatische Wafer-Handhabungsmaschine wurde entwickelt, um ein zuverlässiges Wafer-Be- und Entladen zu ermöglichen. Es ist so konzipiert, dass es mit einer Vielzahl von Wafer- und Gerätepaketen kompatibel ist. Es ist in der Lage, bis zu 10 Wafer pro Partie zu handhaben, mit einer maximalen Wafergröße von 300mm. Das Tool integriert auch fortschrittliche Softwarefunktionen, die eine effiziente Entwicklung und Bedienung von Testprogrammen ermöglichen. Es unterstützt verschiedene Teststrategien wie Hochtemperatur- und Tieftemperaturmessungen, Präzisionstests an mehreren Standorten, Schnelltests und Fehleranalysen. Es ist auch mit Standardschnittstellenkontrollmodalitäten DUT wie GPIB, Ethernet, und Serial/RS-232 vereinbar. EG 4085 ist ein vielseitiges und zuverlässiges Gut, das für die Prüfung der kompliziertesten ICs geeignet ist. Es ist ideal für Anwendungen wie Halbleiter- und Gerätekennzeichnung, Fehleranalyse, Gerätetechnik, Serientests und Modellleistungsoptimierung.