Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090 #293606437 zu verkaufen

Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
4090
ID: 293606437
Wafergröße: 6"-8"
Wafer prober, 6"-8" OCR Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090 ist eine Proberproduktionstestlösung, die für die automatische, Hochgeschwindigkeits- und Hochleistungssondierung von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Halbleiterbauelementen von 8mil bis 1mm Tonhöhe zu testen, und unterstützt auch hochdichte MEMS und optische Elemente. Der Prober verfügt über eine automatische X-Y-Z-Stufe, die eine präzise Ausrichtung zwischen Sonden und dem zu prüfenden Gerät ermöglicht. Der Dual Arm Robotic Handler mit Z Slider ermöglicht schnelle Testzyklen und kann eine Vielzahl von Sonden und Konfigurationen auf Waferebene unterstützen. Das Gerät verfügt auch über erweiterte Bedienelemente für die Benutzeroberfläche und ein grafisches Analysetool, mit dem Benutzer ihre Testkonfigurationen anpassen und effizient verwalten können. Die Flachbildschirm-Plattformen ermöglichen eine einfache Datenansicht und -analyse. EG 4090 verwendet ein einzigartiges Kalibriersystem, um die X/Y/Z-Bewegungsparameter des Probers zu überwachen und anzupassen, was eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit während der Tests ermöglicht. Das Gerät verwendet auch fortschrittliche aktuelle Überwachung, um effiziente, zuverlässige und genaue Sondierungsergebnisse zu gewährleisten. Darüber hinaus beseitigt eine automatische Diagonalfunktion Fehler bei der Fehlausrichtung und gewährleistet eine genaue Sondierung und Prüfung. Der integrierte Dual-Arm-Roboter-Handler bietet eine schnelle Gerätehandhabung und -belastung für die Prüfung auf Stanzebene und Wafer-Ebene. Es verfügt auch über eine Vakuum-Greifmaschine, die eine sichere Wafer-Handhabung und Hochgeschwindigkeitsprüfung gewährleistet. Schließlich ist der Prober mit einem Auto-Test-Statustool ausgestattet, um den Testprozess zu überwachen und problemlos zu beheben. Insgesamt ist ELECTROGLAS EG4090 prober ein wichtiger Fortschritt bei der Prüfung von Halbleiterbauelementen und bietet Anwendern zuverlässige, genaue und schnelle Testzyklen. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Geräten zu testen und bietet auch eine intuitive Benutzeroberfläche, die eine effiziente Verwaltung seiner Testkonfigurationen ermöglicht.
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