Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090 #293606517 zu verkaufen

Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
4090
ID: 293606517
Wafergröße: 6"-8"
Prober, 6"-8" Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090 ist ein führender Prober, der die automatische Prüfung von Halbleiterscheiben ermöglicht. Diese Maschine ist Teil der EG 40xx-Familie, die für Genauigkeit und Geschwindigkeit optimiert ist, mit der Fähigkeit, mehrere Wafer in einem Durchgang zu testen. Mit einer speziellen XYZ-Bewegungsausrüstung und hochwertigen Diamantstilen ist die Maschine in der Lage, mit hoher Auflösung, Wiederholbarkeit und Gesamtgenauigkeit über einen extrem breiten dynamischen Bereich ikbereich zu sondieren. Die Komponenten von EG 4090 umfassen x- und y-Stufen, z-Achsen und dynamische Datenanpassung. Die x- und y-Stufen werden von soliden, leistungsstarken AC-Servomotoren angetrieben und bieten 2,5 μ m Positionierauflösung. Die z-Achse wird von einem DC Servomotor angetrieben und bietet 0,25 μ m Stapelpositioniergenauigkeit. Die Kombination aus Präzision und Geschwindigkeit macht ELECTROGLAS EG4090 zu einem leistungsfähigen Prober zur Unterstützung der steigenden Anforderungen von Halbleiterherstellungsprozessen. Der Tastkopf wird durch einen proprietären dynamischen Dateneinstellungsalgorithmus gesteuert, der die Gesamtauflösung und Genauigkeit von ELECTROGLAS 4090 erhöht. Sein ausgeklügeltes Profilverfolgungssystem erkennt und analysiert kontinuierlich Oberflächenmerkmale, während die vertikale Druckstabilisierungseinheit konstanten Flugdruck über große Z-Achsen-Bewegungen liefert. Eine Reihe von zusätzlichen Funktionen machen ELECTROGLAS/EG EG4090 zu einem herausragenden Prober, wie seine große Arbeitsfläche von 30 mm in X- und Y-Achsen und 300mm in der Z-Achse, das monochrome 5,7-Zoll-LCD-Display und seine integrierte Fehlererkennungsmaschine, die einen Echtzeit-Monitor. EG EG4090 ist auch mit leistungsfähiger Software zur Unterstützung seiner Testfunktionen integriert. Zu den Paketen gehören Probe Operating Systems, Probe-Konfiguration zur Definition von Wafer-Maps, automatisches Wafer-Mapping, Probe Data Viewer zur einfachen Echtzeit-Datenvisualisierung und ein Leakage/C-V Testing-Paket. Die gesamte Kombination der Hardware und Software macht EG4090 ein leistungsstarkes und vielseitiges prober Werkzeug optimiert, für die latestminiaturization Halbleitertechnologien zu prüfen.
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