Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090 #293753143 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
ID: 293753143
Prober
Non-functional
Temperature: 25-150°C
No monitor
No docking plate.
ELECTROGLAS/EG 4090 ist ein Prober zur Prüfung von Halbleiterbauelementen. Es bietet fortschrittliche Automatisierung, hohe Genauigkeit und hohen Durchsatz für die Prüfung von Geräten mit kleinem Formfaktor. Dieses System verwendet einen auf Galvanometern basierenden Scan-Sensor, um die elektrischen Eigenschaften von Geräten schnell zu messen, wenn sie in einer Produktionseinstellung verwendet werden. EG 4090 Prober ist für Multi-Site-Tests von Geräten konzipiert. Es verwendet ein Paar X-Y-Stufen, um das zu testende Gerät automatisch an mehreren Teststellen zu lokalisieren und sich schnell von einem Standort zum anderen zu bewegen. Dies ermöglicht einen hohen Durchsatz mehrerer Geräte in einem einzigen Testschritt. ELECTROGLAS EG4090 prober ist flexibel und kann angepasst werden, um eine Vielzahl von kleinen Formfaktoren zu testen, einschließlich vertikal montierbarer Geräte. Es kann auch zur Sondierung von flachen oder gekippten Oberflächentests sowie von flexiblen Neigungs- und Wickelprüfstellen verwendet werden. Der Prober verwendet ein Paar automatisierte, unabhängige, direkte Antrieb x-y Stufen für eine schnelle, genaue Ausrichtung des Geräts im Test an jedem Messort. Diese Stufen bieten hohe Präzision, Wiederholgenauigkeit, Haltbarkeit und Zuverlässigkeit in selbst anspruchsvollsten Anwendungen. Um genaue und zuverlässige Messungen zu gewährleisten, nutzt EG4090 Prober mehrere Automatisierungsstufen. Es umfasst eine einzigartige Kombination aus automatischer x-y-Stufenausrichtung, automatischer Kontakthöhenverstellung und automatischer Bleikompensation. Dadurch wird sichergestellt, dass das zu prüfende Gerät immer genau und zuverlässig gemessen wird. ELECTROGLAS/EG EG4090 prober nutzt auch Galvanometer-basierte Scan-Technologie für schnelle Messungen von parametrischen Geräteparametern. Dieses Werkzeug ist in der Lage, eine gesamte Drain-Source-Widerstandskurve zu extrahieren, die für die Auswertung von Transistoren, Dioden und parametrischen Gerätemessungen wichtig ist. ELECTROGLAS 4090 prober ist auch mit optionalen Vakuumfutter und statischen Futtermodulen ausgestattet. Das Vakuumfutter ist besonders nützlich, wenn Wafer oder andere große Chipbaugruppen getestet werden, während das statische Futtermodul für die wiederholbare und zuverlässige Prüfung von Kleinteilen und Komponenten verwendet werden kann. Insgesamt ist EG EG4090 prober ein äußerst vielseitiger Prober für die Prüfung von Kleingeräten bis hin zu Großchip-Baugruppen. Es kombiniert hohe Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Flexibilität mit mehreren Automatisierungsstufen für schnelle, zuverlässige und genaue Messungen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor