Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090 #293767725 zu verkaufen

ELECTROGLAS 4090 prober ist ein Halbleiter-Testwerkzeug, das für den Einsatz in Labor- oder Produktionsanwendungen entwickelt wurde. Es dient zum Testen und Charakterisieren von elektrischen Eigenschaften verschiedener Komponenten, wie integrierte Schaltungen (ICs) und Leiterplatten (Leiterplatten). 4090 prober bietet präzise und zuverlässige mechanische und elektrische Prüfung von Halbleiterbauelementen. ELECTROGLAS 4090 Prober verfügt über eine flache Basis-Design, mit einer Platte für die Unterstützung von Testproben. Die Basis kann an die Position der Probe angepasst werden. Es verwendet ein Durchlaufdesign, das eine überlegene Prüfgenauigkeit und Wiederholbarkeit ermöglicht. Der Sondenarm ist mit einer Geschwindigkeit Mikroschritt und Präzisionsbewegungen ausgelegt, die genaue Ergebnisse bei der Sondierung mehrerer Punkte auf einer Probe liefern. 4090 Prober wird von einem hoch abgestimmten linearen Bewegungsgerät angetrieben, das eine kontrollierte Bewegung mit minimierter Drift und maximaler Wiederholbarkeit bietet. Das System umfasst auch einen On-Board-Controller und über 350 optisch gekoppelte digitale E/A-Kanäle, die eine genaue und automatisierte Steuerung von Sondenpositionen ermöglichen. Die automatische Fülleinheit ermöglicht es Benutzern, Proben schnell zu ändern, indem sie vorgeladene Datensätze mit den entsprechenden Einstellungen für jeden Beispieltyp herunterladen. ELECTROGLAS 4090 prober ist mit einer eingebetteten X-Y-Messmaschine integriert, die es Anwendern ermöglicht, präzise an Proben mit bis zu 5 µm Genauigkeit zu messen. Es verfügt auch über ein integriertes Spannwerkzeug, das eine präzise und sichere Montage verschiedener Mustertypen ermöglicht. Zusätzlich ist 4090 prober mit einem integrierten Bestrahlungsdeckel ausgelegt, der die Probe vor Kontamination oder Beschädigung schützt. ELECTROGLAS 4090 prober ist eine fortschrittliche Testlösung, die speziell entwickelt wurde, um präzise und zuverlässige Leistung zu gewährleisten. Es ermöglicht es Benutzern, die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen genau zu analysieren und zu charakterisieren, um präzise Testergebnisse zu gewährleisten.