Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090 #293767864 zu verkaufen

ELECTROGLAS 4090 Prober ist eine Wafer-Level-Testlösung mit automatisierter Testplattform und Punktgenauigkeit für Halbleiter-Wafer-Tests. Es ist für die Produktionsprüfung von integrierten Schaltungen und anderen elektronischen Geräten konzipiert, die eine schnelle und zuverlässige Prozessanalyse ermöglichen. Dieser Prober verfügt über eine automatisierte Testplattform, die bis zu acht Teststandorte unterstützen kann, wobei jeder Standort über zwei Testkassetten verfügt. Es wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Testsonden und Beispielkonfigurationen zu hosten. Die integrierten Teststandorte sind mit Vollwellenkapazität-Messtechnik, automatisiertem Fokus und einem erweiterten programmierbaren Logikcontroller (SPS) ausgestattet. Darüber hinaus verfügt der Prober über einen automatisierten Workspace, der mehrere Probing- und Load-Board-Konfigurationen sowie manuelle Bedienung unterstützen kann. Dies bietet hohe Leistung und Flexibilität beim Testen mehrerer Geräte und Probengrößen. 4090 Prober ist mit einer einzigartigen dynamischen Kalibrierausrüstung ausgestattet, die ihre volle Genauigkeit bei der Verwendung in Produktionsumgebungen gewährleistet. Dieses System passt seine Scanparameter kontinuierlich an, was zu hohem Durchsatz und Zuverlässigkeit führt. Darüber hinaus enthält der Prober eine fortschrittliche automatische geführte Sondeneinheit, die nach jedem Wafer-Test keine manuellen Anpassungen der Teststellen mehr erfordert. Dies macht den Betrieb des Probers schnell und benutzerfreundlich. ELECTROGLAS 4090 Prober ist mit einem optionalen High Speed Scanning Modul erhältlich, um die für die Prüfung benötigte Zykluszeit zu reduzieren. Dieses Abtastmodul verwendet mehrere Laser, um die Leiterplatten schnell abzutasten und so die gesamte Testzeit des Geräts zu reduzieren. Zusätzlich ist dieser Prober in der Lage, mehrere Wafer gleichzeitig zu testen, was die Produktionseffizienz erhöht. Die fortschrittlichen Funktionen von 4090 Prober wie die dynamische Kalibriermaschine, das Hochgeschwindigkeits-Scanmodul und die automatisierte Testplattform machen es ideal für allgemeine Halbleiter-, Speicher- und Logiktests. Die automatisierten Funktionen und die punktgenaue Genauigkeit sind perfekt für maximale Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Produktivität.