Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090 #293769648 zu verkaufen

ELECTROGLAS 4090 ist ein Hochleistungs-Halbleiterprober, der zur Verbesserung der Sondierungsgenauigkeit und -effizienz entwickelt wurde. Dieser Prober verfügt über einen großen inspizierbaren Bereich, der ideal für IC-Sondierung, Wafer-Sondierung und Kontakt-Tests und Mapping ist. 4090 ist der perfekte Prober für eine Vielzahl von Anwendungen. ELECTROGLAS 4090 ist mit einer zweiachsigen, hochpräzisen Nanometer-Auflösung X/Y-Stufe mit vertikalen und horizontalen Bewegungsfähigkeiten ausgestattet. Dies ermöglicht eine präzise Positionierung und Abtastung von Proben und macht es schnell und präzise. Der Prober verfügt auch über einen High-Speed-Scan und Suchgeräte für schnelles Scannen und Ausrichten. Der Prober ist außerdem mit einer programmierbaren vertikalen Bewegungssteuerung ausgestattet, die eine Automatisierung und erhöhte Genauigkeit ermöglicht. 4090 ist für hohe Geschwindigkeit, hohen Durchsatz und wiederholbare Leistung auf kleiner Fläche ausgelegt. Der Prober verfügt über eine Kompensation mit geschlossenem Regelkreis, die sicherstellt, dass etwaige Abtastfehler minimiert und wiederholbar sind. Dadurch wird sichergestellt, dass die Prüfgenauigkeit und -geschwindigkeit maximiert wird und gleichzeitig der Bedarf an Kalibrierung und Reparaturen minimiert wird. ELECTROGLAS 4090 ist auch mit einem eingebauten MEMS-Beschleunigungsmesser ausgestattet, der zur Erfassung und Messung von erodynamischen Kräften auf dem Wafer selbst verwendet wird. Dies ermöglicht optimierte Sondierungs- und Steuerungssysteme und eine schnellere Datenerfassung. Der Prober verfügt zudem über ein integriertes, magnetisch abgeschirmtes Vakuumsystem für effizientes Chip-Handling und zuverlässige Probenhaltung. Dies ist wesentlich für zuverlässige Tests mit minimalem Risiko von Kontaminationen und Probenschäden. 4090 ist auch mit einer hochauflösenden optischen Inspektionseinheit für präzise, hochauflösende Bildgebung ausgestattet. Dies gibt einen detaillierten Überblick über die Topologie der Probe, ohne die Gefahr einer Kontamination oder Beschädigung. Dies ermöglicht eine präzise Fehleranalyse und verbessert die Genauigkeit der Testergebnisse. ELECTROGLAS 4090 bietet zudem eine präzise Temperaturregelung und -überwachung und eignet sich somit ideal für kritische Prüfungen oder anwendungsspezifische Aufgaben. Dies stellt sicher, dass die Probe während der Prüfung immer auf der optimalen Temperatur ist, wodurch Fehler minimiert und die Genauigkeit verbessert wird. Insgesamt ist 4090 ein zuverlässiger und robuster Prober, der präzise, schnelle und wiederholbare Leistung bietet. Seine Eigenschaften machen es ideal für eine Reihe von Anwendungen, wie IC-Sondierung, Wafer-Sondierung und Kontaktprüfung. Die Kompensation des geschlossenen Kreislaufs und der MEMS-Beschleunigungsmesser sorgen für eine sichere und genaue Testerfahrung, während der Hochgeschwindigkeits-Scan und die Suchmaschine ihn zu einer der zuverlässigsten und effizientesten Halbleitersonden machen.