Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090 #9070789 zu verkaufen

ELECTROGLAS 4090 Prober ist ein halbleiterautomatisiertes Testgerät (ATE). Es ist für die Hochgeschwindigkeitsmessung und elektrische Prüfung von Halbleiterbauelementen, die Integration von On-Wafer-Sondierung, Wafer-Sortierung und detaillierte Gerätekennzeichnung konzipiert. Der Prober verfügt über einen integrierten XY-Positioniertisch mit einem Bereich von 1 bis 4 Zoll, der eine einfache und genaue Platzierung des Gerätes oder der Probe in die Testposition ermöglicht. Zusätzlich nutzt der Prober eine aktive elektronische Ausrichtung zur schnellen und genauen Geräteplatzierung und eine Autoscan-Funktion zur weiteren Ausrichtgenauigkeit. 4090 Prober beherbergt vier Kanäle analoger und digitaler Testschaltungen, die eine schnelle, konsistente und zuverlässige Prüfung der Wafer-E/A-Leistung und der Geräteleistung ermöglichen. Der Prober enthält auch einen WaferChuck, der einen automatisierten Kontaktschutz und eine mechanische elektrische Trennung zwischen dem Prober und dem zu prüfenden Gerät bietet. ELECTROGLAS 4090 Prober verfügt auch über eine reiche Palette von Prozesssteuerungs- und Analysewerkzeugen. Dazu gehören die Funktionen Autoselect und Autograph, die eine automatische Geräteauswahl und grafische Waferanzeige ermöglichen, während Ertrag, Trend und Leistungsparameter überwacht werden. Der Prober enthält auch integrierte statistische Analysefunktionen, die in wenigen Schritten eine Datenkorrelation und Analyse von Hunderten von Testergebnissen ermöglichen. Darüber hinaus bietet 4090 Prober eine intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI). Die GUI ermöglicht es Benutzern, schnell die Funktionen und Befehle des Probers zu lernen und Tests schnell und genau durchzuführen. Der Prober bietet auch eine breite Palette von Ressourcen und Tools, um Benutzern zu helfen, schnell ihre eigenen Prüfprüfprogramme zu entwickeln, und benutzerdefinierte Skripte können in Bibliotheken für eine spätere Wiederverwendung organisiert werden. Insgesamt ist ELECTROGLAS 4090 Prober ein ausgezeichnetes Werkzeug für Hochgeschwindigkeitsmessungen und elektrische Tests von Halbleiterbauelementen. Es integriert komfortable und genaue On-Wafer-Sondierungs-, Wafer-Sortier- und Gerätecharakterisierungsfunktionen sowie intuitive Prozesssteuerungs- und Analysewerkzeuge. Der Prober bietet Anwendern und Ingenieuren eine leistungsfähige und effektive Lösung, um Halbleiterbauelemente schnell und präzise zu testen.