Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u+ #293589312 zu verkaufen
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ID: 293589312
Wafergröße: 6"-8"
Frame prober, 6"-8"
Automatic loader
With wafer ID Reader (OCR)
Cassette
25-Slots
System accuracy (X, Y, Z): ±4 µm
Probe-To-Pad Optimization (PTPO)
Probe Mask Inspection (PMI)
Ink Dot Inspection (IDI)
Self tech auto align
Probe cleaning and continuity pad
RS232C
TTL (Parallel I/O)
GPIB (IEEE-488)
PCI Ethernet bus
PCB network speed: 10 MHz to 100 MHz
No temperature and humidity control
Operating system: Windows NT
Non-functional parts:
Bridge camera
PDAR Board
Displayer
Missing parts:
DCM VGA Card
Vision control board.
ELECTROGLAS/EG 4090u + Prober ist eine der fortschrittlichsten Sondierungslösungen. EG 4090 U + ist ein Multi-Sonden-Prober für Hochgeschwindigkeits-Sonden mit hoher Dichte. Es kann die elektrischen Eigenschaften an verschiedenen Stellen auf jedem Wafer oder Serie von Wafern mit seiner fortschrittlichen Multi-Sonde-Technologie messen. Es hat einen Einweg-Roboterarm, der mit hoher Genauigkeit und Geschwindigkeit zur gleichzeitigen Wafer-, Düsen- und Unterdüsensondierung fähig ist. Auf diese Weise können Benutzer mehrere Geräte schnell und präzise testen, ohne Sonden wechseln oder das Setup anpassen zu müssen. Das Gerät verfügt auch über einen großen Sondierungsbereich für hohen Durchsatz und es enthält auch ein fortschrittliches Vision-System zur genauen und effizienten Lokalisierung von Teststandorten. Darüber hinaus nutzt ELECTROGLAS EG4090U + eine leistungsstarke integrierte Rechenplattform mit fortschrittlicher Software, die verschiedene Sondierungsanwendungssysteme unterstützen kann. Es kann eine Vielzahl von automatisierten Sondierungsalgorithmen verarbeiten, wie Geräteverbindungen, systematische Multisite-Sondierung und Fehlerlokalisierung. Darüber hinaus kann die Software auch die Testparameter, die Wafer-zu-Sonden-Verbindungen und die Sondenausrichtung steuern. ELECTROGLAS 4090 U + Prober ist mit einer motorisierten XYZ-Stufe ausgestattet, die eine präzise, gleichmäßige Bewegung für detaillierte Sondierungen ermöglicht. Zusätzlich kann die Einheit mehrere Sondenpositionen zur weiteren Sondierung speichern. Es verfügt auch über ein ergonomisches Design und eine einfache Zugänglichkeit zur Sondenkarte, so dass der Bediener den Prober bei Bedarf schnell neu konfigurieren kann. Darüber hinaus integriert ELECTROGLAS/EG 4090 U + Prober eine fortschrittliche optoelektronische Überwachungsmaschine, die mit verschiedenen laserbasierten Höhenmessgeräten arbeitet. Dadurch wird sichergestellt, dass die Sonde immer richtig auf den Wafer ausgerichtet ist und die optimale Sondenspitzenlage erhalten bleibt. Darüber hinaus kann es auch Wafer-Kontaminationen erkennen, so dass nur saubere Wafer sondiert werden. Insgesamt bietet 4090 U + Prober eine zuverlässige Lösung für großflächige Hochgeschwindigkeitssondierungen mit der Fähigkeit, verschiedene Anwendungssysteme zu unterstützen. Sein vielseitiges Design und seine integrierte Software bieten unübertroffene Flexibilität und Genauigkeit für Tests und Diagnosen.
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