Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u #293589317 zu verkaufen

Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
4090u
ID: 293589317
Weinlese: 1999
Prober Commander version: DOS EGC 7.3.8 DCM Version: DCM 2 VM Alignment system DPS Camera Z-Stage: 0.125 Chuck material: Nickel Chuck type: Hot DPS Camera Scrub pad LCD Monitor Material handler module Display control module Prober control module Vision module OCR Camera Bridge camera: COHU 1999 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090u ist ein vielseitiger Wafer-Prober, der mit einem fortschrittlichen Scanlaser-Interferometer für bessere Genauigkeit und Wiederholbarkeit ausgestattet ist. Dieser Prober verwendet eine integrierte, 9-achsige mechanische Bewegungseinrichtung, um Sonden für eine Vielzahl von Anwendungen genau und schnell auszurichten. Seine hohe Präzision und Wiederholbarkeit ermöglichen eine schnelle und zuverlässige Wafer-Sondierung und machen es zu einem großartigen Werkzeug für automatisierte Tests. Der Prober ist in der Lage, an mehreren Stellen Arbeiten zu unterstützen und hat die Fähigkeit, eine große Palette von Werkstücken zu handhaben. Es verfügt über ein digitales Videomikroskop, das einen vergrößerten Blick auf sein Ziel bietet. Dieses Mikroskop hat einen einstellbaren Vergrößerungsbereich bis zu einem beeindruckenden 40x. Darüber hinaus ist der Prober auch mit einem fortschrittlichen Steuerungssystem ausgestattet, mit dem Benutzer die Zeitsteuerung und Geschwindigkeit der Motoren und die verschiedenen Parameter des Geräts steuern können. EG 4090u hat eine maximale Wafergröße von 8 Zoll und kann Wafer bis zu 0,6 mm dick handhaben. Es verfügt über ein Vakuumfutter, das einen idealen Haltemechanismus für Wafer bietet, während die automatische Waferübertragungseinheit dafür sorgt, dass die Wafer schnell und sicher bewegt werden. Der Prober verfügt zudem über eine eingebaute HeNe-Lasermaschine, die die Sonde mit einer Auflösung von bis zu 0,5 µm exakt auf die Koordinaten der Matrize ausrichtet. Insgesamt verfügt ELECTROGLAS 4090 U über Funktionen, die eine hohe Leistung und Genauigkeit bieten, was es zu einer ausgezeichneten Wahl für eine breite Palette von Wafer-Sondierungsoperationen macht. Der Multi-Site-Support und das integrierte digitale Videomikroskop machen es zu einem flexiblen Gerät, das verschiedene Automatisierungsprozesse mit minimaler Rüstzeit aufnehmen kann. Mit seiner hohen Präzision und Wiederholbarkeit kann dieser Prober ein wichtiger Bestandteil effizienter und hochgenauer Sondierungsoperationen sein.
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