Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u #293589344 zu verkaufen

Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
4090u
ID: 293589344
Weinlese: 2002
Prober Commander version: DOS EGC 7.3.8 DCM Version: DCM 2 VM Alignment system Z-Stage: 0.125 Chuck material: Gold Chuck type: Hot LCD Monitor Material handler module Display control module Prober control module Vision module OCR Camera Bridge camera: COHU 2002 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090u ist ein automatisierter Wafer-Prober, der für die automatisierte Prüfung von Halbleiterscheiben, blanker Form und vereinzelten Chips entwickelt wurde. Der Prober verfügt über einen Roboterarm, der auf drei Achsen - x, y und z - und eine Vier-Punkte-Sondierungsausrüstung fahren kann. Die robuste Bauweise der Sonde kann Halbleiterscheiben bis 200 mm Durchmesser aufnehmen. Das hochauflösende, programmierbare zweiachsige Muster-Staging-System ermöglicht eine präzise Platzierung der Wafer, während die Vier-Punkte-Sondierungseinheit für einen genauen und wiederholbaren Kontakt sorgt. Die Maschine verfügt über vier verschiedene Sondierungstechnologien: hochauflösende x-y (XY), Force Control, Contact Automation und Interconnects. Die XY-Sonden bieten eine zuverlässige Platzierungsgenauigkeit von weniger als 1 Mikron und ein dreidimensionales integriertes Bewegungswerkzeug, das die Wafer-Sondierung sicher unterstützt. Die Kraftsteuerungssonden bieten eine sehr schnelle Spanngeschwindigkeit mit kompromissloser Leistung, was zu einem verbesserten Durchsatz führt. Die Kontaktautomationssonden sind für eine hohe Zuverlässigkeit der Kontaktleistung auch in automatisierten Reflow-Umgebungen ausgelegt. Die Verbindungssonden ermöglichen die Auswertung von Drahtbindungen und anderen Verbindungsmerkmalen. Das Asset verfügt auch über einen erweiterten Scanalgorithmus, um eine genaue und wiederholbare Sondierung sicherzustellen. Die proprietäre Software kann unabhängige Scans für jede der vier Sondierungstechnologien ausführen. Die fortschrittlichen Feedback-Steuerungsalgorithmen des Modells bieten zuverlässige Leistung und einen verbesserten Testdurchsatz. EG 4090u kann auch mit einer optionalen Kameraausrüstung zur Echtzeit-Überwachung von Wafer-Sonden-Standorten konfiguriert werden. Weitere Merkmale des Systems sind eine Wafer-Handhabungseinheit, eine Fehlererkennungsmaschine und ein Wafer-Ausrichtwerkzeug. Zum Wafer Handling Asset gehört ein spezielles Kassettenmodell, das Wafer in mehreren Formaten speichert und transportiert. Die Fehlererkennungseinrichtung ermöglicht es Benutzern, fehlerhafte Stellen vor der Sondierung zu erkennen. Das Wafer-Alignment-System ermöglicht die präzise Positionierung der Wafer und gewährleistet präzise und wiederholbare Sondierungsergebnisse. Die intuitive grafische Benutzeroberfläche des Geräts ermöglicht dem Bediener einen einfachen und direkten Zugriff auf die verschiedenen Funktionen der Maschine.
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