Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u #293603735 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 4090u Prober ist ein Wafermikroskop der dritten Generation, das hochgenaue Messungen für alle Arten von Halbleiterbauelementen bietet. Dieser Prober umfasst Funktionen wie eine fortschrittliche Touchscreen-Benutzeroberfläche, flexible hohe Positionsgenauigkeit und eine breite Palette von High-End-Funktionen, um eine effiziente Sondierung von Geräten zu gewährleisten. EG 4090u verwendet einen 15-Mikron-XY-Tisch mit Z-Antriebsstufen und einem 6-Achsen-Roboterarm, der eine hochgenaue Probenbewegung und -ausrichtung ermöglicht. ELECTROGLAS 4090 U Prober verfügt über eine beeindruckende Palette von Messfähigkeiten: Das Gerät kann eine breite Palette von Parametern messen, einschließlich Düsenfläche, Kontaktgröße, Löten und Schweißen, Widerstand und Temperatur. Diese Messungen können sowohl an Wafern als auch an Flip-Chips durchgeführt werden, wobei Bleirahmen, Gullys und andere Schaltungskomponenten in die Bewertung einbezogen werden. Dieser Prober bietet auch bildbasierte Fehlerinspektionen und Analysen, die Material- und Maßunterschiede schnell erkennen können. Durch leistungsstarke digitale Bildverarbeitungs- und Auswertungsalgorithmen können hochgenaue 3D-Messungen durchgeführt werden. Das Mikroskop verfügt sogar über ein integriertes Sichtsystem zur Fehlerinspektion und Messfähigkeit. Das Gerät ist in der Lage, auf einer breiten Palette von Technologien, wie System-in-Package (SIP), Bleirahmen und die Banken laufen. Dieser Prober verfügt auch über eine leichte Luftbewegungsplattform, die es für den Betrieb und die Produktionsumgebung geeignet macht. 4090u bietet auch eine breite Palette von Kommunikationsprotokollen, die eine Vielzahl von Netzwerk- und Datenverarbeitungsmöglichkeiten ermöglichen. Dieser Prober entspricht auch den Sicherheitsvorschriften und verfügt über erweiterte Sicherheitsfunktionen. ELECTROGLAS 4090u Prober ist das perfekte Werkzeug für Anwender, die schnell genaue und zuverlässige Messungen für ihre Halbleiterbauelemente erhalten möchten. Mit fortschrittlichen Funktionen wie einer intuitiven Touchscreen-Benutzeroberfläche, einem breiten Spektrum an Messmöglichkeiten, einer Luftbewegungsplattform und einem integrierten Sichtsystem zur Fehlerinspektion und -messung bietet dieser Prober eine effiziente und effektive Lösung zur Messung einer Vielzahl von Halbleiterbauelementen.