Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u #293606447 zu verkaufen

Hersteller
ELECTROGLAS / EG
Modell
4090u
ID: 293606447
Wafergröße: 6"-8"
Wafer prober, 6"-8" Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090u ist ein Prober für Testgeräte, wie hochdichte digitale Logik oder integrierte Mischsignalschaltungen (ICs). Dieser Prober ist mit einer X-Y-Bewegungsstufe ausgestattet, die eine präzise Platzierung der Sondenspitze über Endgeräten auf einem im Test befindlichen Wafer ermöglicht. Die Basisstufe hat einen maximalen Weg von 150x150 mm und ist manuell auf eine Schrittgenauigkeit von 0,0001 "/Schritt einstellbar. Der Prober kommt auch mit einem 16-Bit-Digital-Encoder und einer Wiederholbarkeit von 5 Mikrometern über seinen Hubbereich. Der Prober kann bis zu 100 verschiedene Sondenkarten mit einer Wiederholbarkeit von 1 Mikron aufnehmen und jede Karte kann bis zu 800 elektrische Sonden aufnehmen. Darüber hinaus enthält der Prober ein optionales adaptives Lernsystem, mit dem der Benutzer automatisch erkennen kann, welche Sonden auf den zu prüfenden Wafer angewendet werden müssen, um die genauesten Messwerte zu erhalten. Der Prober wird über eine Ethernet-Verbindung oder über eine optionale PC-Software gesteuert, in der der Benutzer Prüfparameter wie Kontaktkraft, Kontaktwiderstand, Genauigkeit, Fahrgeschwindigkeit und Einstellzeit eingeben kann. EG 4090u hat auch einen optionalen automatisierten Tester. Dieser Tester kann mit einer Vielzahl von Testprogrammen und -sprachen wie HSPICE, Verilog und Verilog-A verwendet werden. Dadurch kann der Prober Probleme, die in einem Testwafer auftreten, schnell erkennen und analysieren. ELECTROGLAS 4090 U hat auch eine Vielzahl von Sicherheitsmerkmalen, wie eine Schaltungsabschirmung, Luftbrucherkennung, mechanischer Überfahrschutz und eine HV/LV-Trennschaltung. Diese Funktionen helfen, die Sicherheit des Benutzers während des Testprozesses zu gewährleisten und helfen, mögliche Schäden am zu testenden Wafer zu verhindern. Abschließend ist 4090u ein hochpräziser Prober, der speziell für die Prüfung von hochdichten digitalen Logik- oder Mixed-Signal-ICs entwickelt wurde. Es ist mit einer hoch einstellbaren X-Y beweglichen Bühne, wiederholbaren Sondenkarten und Ethernet-Steuerung ausgestattet. Der Prober verfügt auch über eine Vielzahl von Sicherheitsfunktionen und einen optionalen automatisierten Tester, um sicherzustellen, dass Probleme schnell erkannt und behoben werden.
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