Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u+ #293753204 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 4090u + ist ein fortschrittlicher Prober, der für Hochleistungs-Wafer-Sondierung und Fehlerlokalisierung in der Halbleiterherstellung entwickelt wurde. Der Prober ist mit einem vollautomatischen, 200 mm x 200 mm Spannfutter und einem 5-Achsen-Motorarm ausgestattet, der zum Gleiten über die Oberseite eines Geräts ausgelegt ist. Dadurch können hochpräzise und wiederholbare Sonden durchgeführt werden. Der 5-Achsen-Motorarm kann auch verwendet werden, um die Fahrgeschwindigkeit und Position des Spannfutters sowie seine Skalierbarkeit genau einzustellen, um die Leistung der Sonde zu optimieren. Der Prober ist in der Lage, Wafergrößen bis zu 8 Zoll zu handhaben, was das Sondieren und Testen mehrerer Wafer unterschiedlicher Größe erleichtert. Es kann auch zur Waferausrichtung und Waferorientierung verwendet werden. Neben dem automatisierten Arm umfasst der Prober auch eine breite Palette von Tools zur Maximierung der Produktivität, wie ein integrierter Autofokus-Prozess, ein High-Speed-Autotilt-Feature, ein leistungsstarkes Krafterkennungssystem und eine intuitive Benutzeroberfläche. Der integrierte Autofokus-Prozess ermöglicht es dem Bediener, den Prober schnell und genau auf den gewünschten Punkt der Probe zu fokussieren. Das Hochgeschwindigkeits-Autotilt-Feature kann verwendet werden, um den Winkel der Probe einzustellen, um verschiedene Arten von Sonden oder Prüfpunkten aufzunehmen. Das Krafterfassungssystem ermöglicht es dem Bediener, den Tastdruck genau zu messen und aufzuzeichnen. Die intuitive Benutzeroberfläche umfasst Echtzeit-Monitoranzeigen, eine Bibliothek mit Sondierungssequenzen und Berichte auf dem Bildschirm, die dem Bediener helfen, Probleme schnell zu erkennen, den Qualitätsbetrieb sicherzustellen und die Produktivität zu steigern. Der Prober ist auch mit einer Reihe von Diagnose- und Kalibrierungsfunktionen ausgestattet, um eine konsistente, zuverlässige Sondenleistung im Laufe der Zeit zu gewährleisten. Die Diagnoseoptionen umfassen integrierte Diagnosen, Diagnosesonden und Messfrequenz-Sweeps. Die Kalibrierungsfunktionen umfassen Trigger-Offset, Z-Achsen-Tracking und Wafer-Mapping zur Feinabstimmung der Sonden-Positionierungsfunktionen. Um die Sicherheit zu gewährleisten, ist der Prober mit mehreren Verriegelungen ausgelegt, um vor unerwarteten Stromstößen oder anderen Anomalien zu schützen. Darüber hinaus ist der Prober mit Netzwerk- und Sicherheitsfunktionen ausgestattet, um sicherzustellen, dass Daten sicher übertragen, gespeichert und sicher zugegriffen werden. EG 4090 U + ist ein fortschrittlicher Prober, der für Hochleistungs-Wafer-Sondierung und Fehlerlokalisierung in der Halbleiterherstellung entwickelt wurde. Es ist mit einem automatisierten Arm, einer breiten Palette von Werkzeugen, einem integrierten Autofokus-Prozess, einem High-Speed-Autotilt-Feature, einem leistungsstarken Krafterkennungssystem und einer intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet. Es umfasst auch eine Reihe von Diagnose- und Kalibrierungsfunktionen sowie mehrere Interlocks und Netzwerk- und Sicherheitsfunktionen, um Sicherheit und Datensicherheit zu gewährleisten.