Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u+ #293753207 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 4090u + prober ist eine vielseitige, zuverlässige und leistungsstarke Lösung zum Sondieren und Testen einer Vielzahl von Wafertechnologien. Es bietet ein hohes Maß an Genauigkeit und Flexibilität, so dass Anwender Halbleiterkomponenten schnell und einfach mit höchster Genauigkeit und Präzision sondieren und testen können. Mit seinem ergonomischen Design und seinen fortschrittlichen Automatisierungsfunktionen ist EG 4090 U + gut für eine Vielzahl von Wafer-Sondierungsanwendungen geeignet. ELECTROGLAS EG4090U + prober wurde entwickelt, um eine breite Palette von Messinstrumenten zu unterstützen, einschließlich CCD und Elektrolumineszenzkameras, Sehsensoren und Infrarotsysteme. Es kann Wafergrößen von bis zu 12 Zoll Durchmesser handhaben und verfügt über einen eingebetteten Lernmodus, um jedes Testrezept schnell zu programmieren. 4090u + verfügt auch über ein einzigartiges Z-Höhe Messsystem, das automatisch die Höhe der Sonde für optimale Genauigkeit und Wiederholbarkeit anpasst. Die fortschrittlichen Automatisierungsfunktionen von ELECTROGLAS 4090u + gewährleisten zuverlässige, wiederholbare Tests. Es verfügt über Wafer-Autodetektion, ein Hochgeschwindigkeits-Autofokus-System und eine Vielzahl anderer anpassbarer Funktionen, um konsistente Sondierung und maximalen Durchsatz zu gewährleisten. Der Prober bietet auch mehrere Oberflächenmontage Sondenlösungen mit einer Vielzahl von Pickup-Werkzeugen und austauschbaren Sonden. Für mehr Sicherheit beinhaltet ELECTROGLAS/EG 4090 U + eine statisch freie Zone, die Gefahren im Zusammenhang mit elektrostatischer Ladung minimiert. Hohe Kapazität und tiefe Wafer Sondierung sind mit ELECTROGLAS 4090 U + prober zur Unterstützung der Prüfung von komplexen Technologien auf einem oder zwei Wafer-Systeme. Ein in sich geschlossenes Vakuumdichtungsmodul hält Wafer sicher und ein robustes elektrostatisches Sicherheitssystem schützt die Wafer vor kurzen Hosen. 4090 U + verfügt auch über verbesserte Zuverlässigkeit durch anpassbare Temperaturregelalgorithmen, verbesserte Datenprotokollierung und -analyse sowie eine Vielzahl weiterer Funktionen, die Wafertests mit überlegener Geschwindigkeit und Genauigkeit ermöglichen. Insgesamt ist EG4090U + prober eine ideale Testlösung für eine Vielzahl von Wafertechnologien. Mit seinen fortschrittlichen Automatisierungsfunktionen, verbesserten Sicherheitsfunktionen und intuitiven Bedienelementen ermöglicht EG 4090u + es Benutzern, Wafer schnell und präzise zu testen und zu analysieren.