Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u #9074280 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 4090u ist ein Prober, der für die Prüfung und Sondierung von Ein- oder Mehrstandortgeräten auf Wafersubstraten entwickelt wurde. Es verwendet proprietäre elektrische Charakterisierungstechnologie, um eine umfassende, wiederholbare Charakterisierung bereitzustellen, die auf eine breite Palette von Materialien angewendet werden kann. EG 4090u ist auf einer modularen Plattform aufgebaut, die eine einfache Installation und Neukonfiguration ermöglicht. Es unterstützt eine breite Palette von Hochfrequenz-Sondierungslösungen, die auf jedes Board oder Gerät zugeschnitten werden können. Es steht eine Hochspannungssondierung mit anhaltenden Hochspannungsraten bis zu 500V DC zur Verfügung. Multi-Site-Sondierung wird durch die Verwendung einer Switch-Matrix und bis zu 256 Sonden-Sites ermöglicht. Die Fingerspitzen- und linearen Sonden bieten eine überlegene Auflösung und Wiederholbarkeit und liefern schnelle Sondierungszeiten und hohe Genauigkeit. Das Design von ELECTROGLAS 4090 U umfasst fortschrittliche Roboterpositionierung und selbstjustierende Ausrüstung, die die Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit der Sondierung verbessert. ELECTROGLAS 4090u verfügt über ein eingebettetes Steuerungssystem, das die Steuerung und Datenerfassung von mehreren Wafersubstraten ermöglicht. Dieses Gerät ist hochgradig konfigurierbar und bietet eine Reihe leistungssteigernder Optionen, die eine hohe Rendite gewährleisten. Das Modul Elektrische Messung (EM) ist in der Installation von EG 4090 U enthalten. Dies bietet eine Schnittstelle zwischen der Probersteuerungsmaschine und elektrischen Messwerkzeugen zur elektrischen Charakterisierung. Es unterstützt eine breite Palette von elektrischer Hardware und Software, die sowohl automatisierte Messungen als auch manuelle Steuerung ermöglicht. 4090 U kommt auch mit automatisiertem Wafer Handling, mit bis zu 8 Wafern in einem zusammenhängenden Muster und automatisiertem Be- und Entladen von Wafern. Dies ermöglicht eine wiederholbare und schnelle Sondierung über mehrere Wafersubstrate. Darüber hinaus verfügt ELECTROGLAS/EG 4090 U über ein erweitertes Wafer-Mapping, das eine schnelle und genaue Abbildung mehrerer Standorte auf einem einzelnen Wafer ermöglicht. Dies ist besonders vorteilhaft für die Ausbeuteoptimierung und Prozessfehleranalyse. Insgesamt ist 4090u ein fortschrittlicher und zuverlässiger Prober, der sich gut für die detaillierte Sondierung und elektrische Charakterisierung von Einzel- und Multi-Site-Geräten auf Wafersubstraten eignet. Die fortschrittlichen Funktionen und die automatisierte Wafer-Handhabung können dazu beitragen, den Durchsatz und die Ertragsoptimierung zu beschleunigen.