Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u+ #9151078 zu verkaufen
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ID: 9151078
Prober
Thin wafer upgrade
BIOS version: 10.0.2.2G
OS: Windows 2000
EGCommander: 9.2.1SP5
Profile head: NCES
Hot chuck
DPS2 camera
Bridge Camera: N type
Transfer arm: normal wafer
Spindle type: thin wafer
Work Z range: 200-500 mil
MH version: P029
Pad type (clean unit): reg scrub
Power: 1 phase, 115 V
Currently installed.
ELECTROGLAS/EG 4090u + ist ein Werkzeug zum Testen von mikroelektronischen Baugruppen und Wafern. Es ist ein multifunktionaler Wafer-Prober, der hohe Automatisierung mit seiner patentierten 3D-Bewegungstechnologie kombiniert und so einfach zu programmieren und zu bedienen ist. Das EG 4090 U + ist in der Lage, eine Vielzahl verschiedener Test- und Diagnoseoperationen auf Testsubstraten automatisch durchzuführen. Es ist ein wertvolles Testobjekt für jede Labor- oder Produktionsumgebung. ELECTROGLAS EG4090U + verwendet seine Hochleistungs-3D-Bewegungstechnologie, um genaue Positionierung über den x, y, und θ Äxte des Substrats zu bieten, genaue Probeergebnisse erlaubend. Die dreidimensionale (3D) Bewegungstechnologie des Geräts kann den Prüfkopf innerhalb eines Bereichs von 45 ° x 45 ° bei bis zu 230 mm Geschwindigkeit bewegen, um schnellere Prüfvorgänge zu ermöglichen. Es verfügt auch über fortschrittliche Automatisierungssteuerungstechnologie, die programmiert werden kann, um verschiedene Testoperationen zu optimieren. Das automatisierte System macht Probenplatzierung, Probenwechsel, Datenerfassung und Testumschaltung schneller und effizienter. Neben der Standard-3D-Bewegungstechnik und der Automatisierungssteuerung kann ELECTROGLAS/EG EG4090U + auch für andere Anwendungen konfiguriert werden. Es verfügt über zwei Softwareoptionen, ProbeXPTM und EGViewTM, die leistungsstarke Funktionen für die Charakterisierung von Wafern, Halbleitergerätetests, Fehleranalysen und Ertragsüberwachung bieten. ProbeXPTM ermöglicht On-Wafer-Tests, Datenerfassung und Bilderfassung sowie Codebearbeitung und Programmierung. EGViewTM bietet Anwendern die Echtzeit-Verarbeitung, Visualisierung und Analyse von Testergebnissen. Zu den zusätzlichen Funktionen von EG 4090u + gehört die automatische Positionierung, die die Sonde automatisch auf dem Wafer positionieren kann. eine integrierte Sichteinheit zum Erfassen der Position des Substrats; eine benutzerfreundliche Windows-Benutzeroberfläche für intuitive Bedienung; mehrere Kommunikationsschnittstellen zur Integration in externe Systeme; eine Vielzahl von Optionen für die Handhabung von Wafern; und ein anpassbares Design, das es Benutzern ermöglicht, die Maschine auf ihre Test- und Anwendungsanforderungen abzustimmen. Insgesamt ist 4090u + ein sehr vielseitiger und zuverlässiger Wafer-Prober. Mit seiner fortschrittlichen 3D-Bewegungstechnologie, Automatisierungssteuerungsfunktionen, integrierten Softwareoptionen und dem anpassbaren Design ist es eine ideale Lösung für verschiedene Test- und Diagnoseoperationen auf Testsubstraten.
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