Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u #9246352 zu verkaufen
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Tippen Sie auf Zoom
ELECTROGLAS/EG 4090u ist ein fortschrittlicher Prober, der entwickelt wurde, um die Anforderungen der hochvolumigen Wafertests zu erfüllen. Dieser ultrahochpräzise Prober verfügt über ein einzigartiges Sondendesign, optisches Zoomen und andere erweiterte Funktionen, die sowohl Ertrag als auch Qualität erhöhen sollen. EG 4090u Sonden verfügen über ein fortschrittliches Design, das höchste Präzision ermöglicht. Die speziellen Öffnungen an den Spitzen jeder Sonde ermöglichen einen miniskularen Kontakt zwischen der Sonde und der Probenoberfläche, was unglaublich genaue Messungen ermöglicht. Diese Konstruktion reduziert auch den Verschleiß an der Sonde im Laufe der Zeit. Zusätzlich werden die Sonden mit einem Material beschichtet, das den Oberflächenwiderstand minimiert und einen korrekten Kontakt zwischen Sonde und Probe gewährleistet. Die erweiterten optischen Zoomfunktionen von ELECTROGLAS 4090 U ermöglichen eine unglaubliche Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei der Wafer-Sondierung. Die Zoomfähigkeit ermöglicht eine präzise Punkt-zu-Punkt-Entfernungsmessung und reduziert den Bedarf an Nähten. Dies erhöht letztlich die Genauigkeit der Probenahme und erübrigt die Notwendigkeit mehrerer Durchgänge über den gleichen Bereich. EG 4090 U hat eine beeindruckende maximale Messrate von 3.000 Punkten pro Sekunde, so dass Proben schnell und effizient getestet werden können. Zusätzlich ist der Prober mit einem einzigartigen End of Scan Monitored Interrupt (ESMI) ausgestattet, der den Scan automatisch stoppt, wenn eine Probe ausfällt. Dies hilft, falsch positive Ergebnisse zu beseitigen und sorgt für genaue Messwerte. ELECTROGLAS 4090u ist ein leistungsstarkes und präzises Werkzeug für die Prüfung von großvolumigen Wafern. Das fortschrittliche Sondendesign, die optischen Zoomfunktionen, die hohe Genauigkeitsrate und die EOMI-Scan-Unterbrechung sorgen für Genauigkeit und Effizienz bei der Wafer-Sondierung. 4090u ist eine ideale Lösung für jedes Unternehmen, das intensive Wafertests erfordert.
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