Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u #9284227 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 4090u ist ein Prober, der zum Testen und Analysieren von Halbleitermaterialien verwendet wird. Es ist für elektrische Sondierung, Sondierung für Kapazität-Spannung (CV) -Charakteristik und Sondierung für optische Eigenschaften ausgelegt. Es ist ein hochpräziser und zuverlässiger Prober, der 4 "-Proben scannen kann und eine Auflösung von bis zu 0,2 µm hat. Der Prober verfügt über eine innovative Technologie namens' Scan-Sweep', mit der mehrere Sondenpunkte schnell getestet und charakterisiert werden können. Es kann verwendet werden, um Parameter wie elektrische Eigenschaften wie Ströme, Kapazitäten und Widerstände zu messen; CV-Messungen wie Halbleiterschwellenspannung und Leckstrom; und optische Eigenschaften, wie der Brechungsindex. EG 4090u hat ein temperaturgeregeltes Spannfutter, das hilft, die Sonde in einem Temperaturbereich stabil zu halten. Die Sondierungsvorrichtung kann sich bis maximal 6 mm an eine beliebige Stelle auf dem Wafer bewegen. Die von ELECTROGLAS 4090 U verwendete Sonde wurde speziell entwickelt, um die kapazitive Belastung des zu prüfenden Geräts zu reduzieren, was es für genaue Messungen geeignet macht. Der Prober verfügt auch über eine digitale Steuerung, die es dem Benutzer ermöglicht, bis zu 99 Sondierungsprogramme zu speichern, und bietet eine Vielzahl von Sondierungsstrategien wie parallele Tests und sequentielle Tests. Die Benutzeroberfläche weist ein großes LCD-Display auf, das Informationen über den Sondenstatus, insbesondere einschließlich der Koordinatenposition der Sonden, liefert. ELECTROGLAS 4090u bietet ein automatisches Messsteuerungssystem, das die Sondierungsergebnisse überwacht, steuert, aufzeichnet und speichert, wodurch es einfach ist, einen detaillierten Prüfpfad zu pflegen. Der Prober wird von einer Hochdurchsatz-Computerspur angetrieben, die verschiedene Messalgorithmen ausführen kann. Der Prober ist so konzipiert, dass er mit den neuesten fab-Messtechnologien wie E-Strahl, Röntgenstrahl und Elektronenmikroskopie kompatibel ist. Es kann auch mit Sondierungszubehör wie Bias/Sondeneinheiten, Low-Level-Kontakten und magnetischen Vakuumsondiersystemen verwendet werden. Insgesamt sind 4090 U ein zuverlässiger und präziser Prober zur Prüfung und Analyse von Halbleitermaterialien. Die innovative Scan-Sweep-Technologie, die Hochdurchsatz-Computerspur, die digitale Steuerung und die automatische Messsteuerung liefern genaue und effiziente Ergebnisse.