Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u #9377398 zu verkaufen

ELECTROGLAS/EG 4090u Prober ist ein vielseitiges Wafer-Sonden-Kartenprüfgerät. Es wird in Wafer-Level-Tests verwendet und bietet mehrere Funktionen zur Optimierung der Testleistung. Das System verfügt über eine vollautomatische Einheit mit Wärmeschutz und Ausrichtungsmöglichkeiten. Es ermöglicht Benutzern, schnell und effizient verschiedene Parameter einer Probe zu messen, wie Widerstand, Kapazität und Induktivität. Der Prober enthält eine verstellbare Montageplattform, die an eine Reihe von Probengrößen angepasst werden kann. Die Plattform nutzt ein Vakuum, um eine sichere Bindung der Probe zu gewährleisten. Zusätzlich ist ein verstellbares Luftlager für die Probe für erhöhte Messgenauigkeit bei gleichzeitiger Minimierung der Ergebnisschwankungen enthalten. Die Sondenkarte ist sehr anpassbar und umfasst sowohl mechanische als auch elektrische Komponenten. Die mechanischen Komponenten umfassen eine verstellbare Auslegerfeder, einen Kontaktfinger und einen flexiblen Schutz. Die elektrischen Bauelemente bestehen aus einer Spannungsquelle, einer Stromquelle und einem Signalgenerator. Zusammen schaffen diese Komponenten eine maßgeschneiderte Testumgebung, die den spezifischen Testanforderungen der Kunden entspricht. Die Maschine enthält auch ein Datenerfassungstool, mit dem Benutzer Messdaten schnell aus dem Asset herunterladen können. Das Modell kann auch verwendet werden, um Daten schnell über ein Ethernet oder einen USB-Anschluss an eine entfernte Quelle zu übertragen. EG 4090u Prober ist für Haltbarkeit, Zuverlässigkeit und Genauigkeit gebaut. Sein Hochleistungsdesign ist ideal für den Einsatz in temperatur- und atmosphärischen zustandsgesteuerten Umgebungen. Zur Ausstattung gehören auch Kalibrierwerkzeuge für einfachen Aufbau und Wartung. Das Produkt wird durch eine Garantie und zusätzlichen technischen Support unterstützt, der eine vollständige Kundenzufriedenheit ermöglicht. ELECTROGLAS 4090 U Prober ist eine zuverlässige und genaue Lösung für Qualitätskontrolle und Wafer-Pegelprüfung.