Gebraucht ELECTROGLAS / EG 4090u #9406778 zu verkaufen
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ID: 9406778
Wafergröße: 4"-8"
Prober, 4"-8"
Top chuck, 8" Gold
COGNEX PRM3 Align unit
Small square cleaning tip
Monitor: 10" Flat
Large ring carrier
No OCR
Operating system: DOS Version 6.22
Air requirement: 24" Hg
Power requirement: 115 VAC.
ELECTROGLAS/EG 4090u prober ist ein fortschrittlicher computergesteuerter Prober, der entwickelt wurde, um Halbleiterwafer genau und schnell zu testen. Es ist in der Lage, Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 6 "zu sondieren und bietet hochpräzise ultrageräuscharme Messungen. Der Prober enthält Bewegungssteuerungskomponenten, die eine nanometergenaue Sondierung ermöglichen. Diese Bauteile ermöglichen eine präzise Bewegung der X-, Y- und Z-Achse, wodurch eine präzise Positionierung der Prüffühler relativ zu den Gerätestandorten ermöglicht wird. Dies wird durch ein dreidimensionales Auto-Nivelliersystem weiter verbessert, das die Genauigkeit der Positionierung und die Stabilität der Kontaktkräfte gewährleistet. EG 4090u verfügt über eine erweiterte Testumgebung, die über Software programmierbar ist. Auf diese Weise können Tests individuell konfiguriert und auf individuelle Anforderungen zugeschnitten werden. Es verfügt auch über eine Dual-Test-Konfiguration, so dass zwei Probing-Decks im Tandem verwendet werden können, und eine Reihe von Test-Scheduling-Optionen. Das Instrument ist in einem ergonomischen Design untergebracht, mit leicht zu erreichenden Bedienelementen, die auf der rechten Seite montiert sind, und allen Bedienungsanleitungen, die sich auf der Frontplatte befinden, wodurch die Bedienung einfach und effizient gehalten wird. Das Gerät verfügt außerdem über eine Touchscreen-Oberfläche, um die Einrichtungszeit der Tests zu verkürzen und die Kontrolle komplexer Tests zu vereinfachen. ELECTROGLAS 4090 U verfügt auch über eine Reihe von Sicherheitsmerkmalen, wie automatischen Nadelschutz, eine Not-Aus-Funktion und einen Ultranäherungssensor, der den Abstand zwischen Nadel und Wafer überwacht. Insgesamt ist 4090 U ein fortschrittlicher Prober, der in der Lage ist, präzise und zuverlässige Tests von Halbleiterscheiben bereitzustellen. Es bietet dem Benutzer eine Reihe von Optionen und Einstellungen, die qualitativ hochwertige, maßgeschneiderte Testergebnisse ermöglichen.
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