Gebraucht ELECTROGLAS / EG Horizon 4080X #293767732 zu verkaufen

ELECTROGLAS 4080X prober ist eine vielseitige und hochgenaue Sondenplattform, die für automatisierte Wafer-Test- und Wafer-Level-Sondenanwendungen entwickelt wurde. Es ist mit einem reichhaltigen Softwarepaket ausgestattet, das eine größere Flexibilität und Kontrolle des Testprozesses ermöglicht. 4080X schließt ein schnelles und genaues 4-Achsen-Hochleistungslaufwerksystem ein, 120-Mikron-Entschlossenheit und Wiederholbarkeit im X-Y Flugzeug anbietend. Die temperaturgesteuerten hochauflösenden Sonden, die über einen weiten Bereich von Temperatur und Druck arbeiten, sorgen für zuverlässige Testergebnisse und minimieren Ausfälle durch thermischen Schock. Das große 6 "-Futter kann mehrere Wafergrößen aufnehmen und kann bis zu 12 Wafer in einem Zyklus handhaben. Das robuste Prüfgerät verfügt über mehrere erweiterte Funktionen wie ein Hochgeschwindigkeits-Kraftsensormodul mit einem breiten Dynamikbereich, um Kräfte genau und präzise zu messen. Ein Kontaktprüfmodul bietet schnelle Tests und Handhabung, so dass eine minimale Zeit zwischen den Tests. Der Prober verfügt auch über statische Entladungsfähigkeiten mit geringer Energie, wodurch Risiken für empfindliche Materialien reduziert werden. Die offene Architektur ermöglicht die Integration mit neuen oder bestehenden automatisierten Tools und SEMI-S2 konforme Kommunikation. Das benutzerfreundliche Windows-basierte Softwarepaket ermöglicht die Konfiguration und Anpassung von Sonden entsprechend den spezifischen Testparametern jeder Anwendung. Es liefert auch eine klare grafische Anzeige der Testergebnisse, komplett mit detaillierten Nachmessdaten. Die Sonden können ferngesteuert oder mit der intuitiven Softwareschnittstelle gesteuert werden. Insgesamt ist ELECTROGLAS 4080X prober ein ausgezeichnetes Werkzeug zum Testen und Sondieren von Wafern. Seine hohe Präzision und Genauigkeit, flexible Integration und einfache Benutzeroberfläche machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen.