Gebraucht ELECTROGLAS / EG Horizon 4080X #293767733 zu verkaufen

ELECTROGLAS 4080X ist ein Wafer-Prober für Halbleitertest- und Montageanwendungen. Dieser Prober bietet eine leistungsstarke Kombination aus hoher Genauigkeit, Geschwindigkeit und Wiederholbarkeit. Sein fortschrittliches Positionierungssystem nutzt das Dual-Servo-Design mit geschlossener Schleife, um die Sondierungsgenauigkeit zu erhöhen und die Wafer-Varianz zu reduzieren. 4080X ist in der Lage, bis zu 32 Teststellen auf einem 25mm (1 „) Wafer mit Wiederholbarkeit von ± 0,075µm über 100mm (4“) Weg zu sondieren. ELECTROGLAS 4080X bietet eine breite Palette von Sondierungslösungen. Die Contact Down Probing Solution bietet die Kontakt- und Kompensationssondierung von ATE-Pins und ausgewählten Teststellen auf dem Wafer. Das Open Map Prober-System verwendet Contact-Down-Sondierung und optische Zentrierung zur hochgenauen Prüfung von Wafer-Perimeter-Standorten und vollständiger Kartenmatrix. Die Fine Pitch Alignment Pak (FPAK) ermöglicht Anwendungen wie die Befestigung von Stanz- oder Flip-Chips mit präzise ausgerichteten Paddel- oder Kontaktstellen. Das Multi-Position Reticle System (MP-RS) wurde entwickelt, um Sondierungszeit und Einrichtungskosten zu reduzieren, wenn mehrere Teststandorte ausgerichtet werden müssen. In Bezug auf Messungen bietet 4080X äußerst genaue und wiederholbare Ergebnisse. Seine Schrittmotorkonfiguration hat eine Wiederholbarkeit von 0,075µm über 100mm (4 ") Weg, um präzise hochauflösende Messungen zu gewährleisten. Seine fortgeschrittenen Signalintegritätsschaltsystemschnittstellen für die Oblate mapper und automatische RVP-Plattform machen Signal die Treue des prober zuverlässigen und repeatable. ELECTROGLAS 4080X enthält auch mehrere Sicherheitsmerkmale, um den Benutzer und die Maschine vor elektrischen Stößen zu schützen, die eine Unterstützung für ein Erdungshandgelenkband, eine HF-Abschirmung und einen ESD-geschützten Bereich umfassen. Seine Remote-Betriebsfunktionen erleichtern den Zugriff von einem internetfähigen Gerät aus, so dass der Prober und seine Parameter remote eingerichtet und überwacht werden können. Die Softwareschnittstelle ist intuitiv und bietet die Steuerung der Proberfunktionen, wie Sondierungsstellen, Übersicht der Testergebnisse und Aufzeichnung der Positionen. Insgesamt bietet 4080X eine leistungsfähige Kombination aus hoher Genauigkeit, Geschwindigkeit, Wiederholbarkeit und Sicherheitsfunktionen, die es zu einem unschätzbaren Werkzeug für Halbleitertests und Montageanwendungen machen. Mit seinem robusten Design und fortschrittlichen Technologien ist ELECTROGLAS 4080X in der Lage, genaue, wiederholbare Messungen zu liefern, die die anspruchsvollsten Anforderungen erfüllen.