Gebraucht ELECTROGLAS / EG Horizon 4080X #293767897 zu verkaufen

ELECTROGLAS 4080X Prober ist ein Allzweck-Wafer-Prober, der üblicherweise für elektrische Tests auf Halbleiterscheiben verwendet wird. Es ist für die effiziente Prüfung von ein- und doppelseitigen Wafern konzipiert. Es verwendet eine IEEE-488 (GPIB) serielle Schnittstelle für Kommunikation und Steuerung, so dass das Hostsystem den Status des Probers konfigurieren, steuern und überwachen kann. Dieser Prober verfügt über eine vertikale Vakuumsäule mit einer eingebetteten X/Y-Stufe, die einen Bereich von ± 5,5 Kanälen aufweist, wodurch er einen gesamten Arbeitsbereich von 11 Zoll hat. Die Sondenspitzen bewegen sich auf vertikalen Schienen auf und ab, während sich die X/Y-Bühne horizontal und durch ein computergesteuertes wiederholbares Muster bewegt. Dies ermöglicht eine vollständige Abdeckung entlang der Oberfläche des Wafers unter Beibehaltung eines präzisen und wiederholbaren Musters. Weitere Merkmale sind ein 6 AMP DC-Netzteil und ein programmierbarer Prüfsondenstrom mit einem Bereich von 0,1 Milliampere bis 40 Milliampere, 0,25 Mils Genauigkeit, ein min/max Schaltverhältnis von 2/1 und Kompatibilität mit fast jedem automatischen Prüfgerät. Für die Datenverwaltung unterstützt 4080X auch eine Reihe von Datenbankübertragungsoptionen. Dazu gehören bothan ASCII Textformat und eine Direct-Connect-Schnittstelle für die Kompatibilität mit dem PC. Verbessern Sie die Genauigkeit der Prüfvorgänge ist ein selbstjustierendes Nadelpositionssystem. Dieser Mechanismus beinhaltet einen verstellbaren Endschalter, wodurch unnötige Bewegungen der X/Y-Stufe und Sondenspitzen vermieden werden. Zusätzlich sorgt eine einstellbare Sondenschneidhöhe für einen genauen Vakuumdruck an der Kontaktstelle. ELECTROGLAS 4080X ist auch mit einer Sitzbankmontage und einer Schwenkarmmontage ausgestattet, die den Wafer an seinem Platz lässt und dem Benutzer ermöglicht, sich schnell zwischen verschiedenen Bereichen des Prüftisches zu bewegen. Dieser Prober kann sowohl einseitige als auch doppelseitige Wafer sondieren. Der Prober ist auch zur Lithographie fähig, so dass Benutzer ihre eigenen benutzerdefinierten Muster auf den Wafern erstellen können. Insgesamt wurde 4080X Prober entwickelt, um eine vollständige, schnelle, zuverlässige und genaue Untersuchung und Prüfung von Wafern in einer Vielzahl von Märkten, von Unterhaltungselektronik bis zu medizinischen Produkten, zu ermöglichen. Seine Kombination aus automatisierten und manuellen Bedienelementen sowie seine intuitive Benutzeroberfläche bieten sowohl Anfängern als auch erfahrenen Anwendern eine effiziente und zuverlässige Erfahrung für ihre Testanforderungen.