Gebraucht FITTECH IPT6000 #9036940 zu verkaufen

Hersteller
FITTECH
Modell
IPT6000
ID: 9036940
Weinlese: 2011
LED chip / wafer probing and testing systems Shield designed to eliminate back light interference Build-in optical linear encoder Recordable vocal alert system Brightness measured by silicon PD Currently operational 2011 vintage.
FITTECH IPT6000 bietet ein komplettes System zum Testen von integrierten Schaltungen und Geräten mit Submikron-Funktionsgrößen und bietet gleichzeitig die Flexibilität, eine Vielzahl von Teiletypen und -technologien zu messen. IPT6000 ist ein hochauflösender Prober mit drehbarer X/Y-Stufe und PC-gesteuerter Z-Stufe, der die gleichzeitige Prüfung verschiedener Gerätegrößen bis zu einer maximalen Teilegröße von 6,0 „x 6“ ermöglicht. Es ist in der Lage, bis zu 0,25 µm Intervalle zu sondieren und bietet die höchste Auflösung für die aktuelle und die nächste Generation der Chip-Technologie. FITTECH IPT6000 unterstützt mehrere Testkonfigurationen, einschließlich Hochgeschwindigkeitsfertigung, Mehrfrequenz-, parametrische und Fehleranalyse. Es verfügt über mehrere Hochgeschwindigkeits-Pin-Multiplexer, um zeitintensive Parallelen zu reduzieren, die für Hochgeschwindigkeits-Testanwendungen erforderlich sind. Das Sondenkartendesign ist vielseitig genug, um Radien erfassen, einzelne Steine, mehrere Steine, Kontakt vertikale Sätze, Flip-Chip-Stoß, sowie Array-Kontakt und Bond-Pad-Tests zu unterstützen. Der Prober ist mit einer automatischen Lade-/Entladestation mit Dual-Overhead-Kameras ausgestattet, um die Teile genau zu positionieren. Der Aufbau und die Prozesssteuerung sind IPT6000-preset, was eine einfachere Bedienung ermöglicht. Die erweiterte grafische Benutzeroberfläche ermöglicht es Benutzern, ihre Prozessparameter in Echtzeit zu überwachen und diese schnell entsprechend anzupassen. Die Robustheit des Probers ermöglicht hochfrequente parametrische Tests, einschließlich Wafer-Sortierung, schnelle thermische Charakterisierung, Auger-Tests, Kalibrierung und High-Speed-Düsencharakterisierung. FITTECH IPT6000 ist besonders effektiv für rauscharme, hochauflösende Tests von Breitband-ICs, diskreten Komponenten und Leistungsgeräten. Das Sondensystem ist einzigartig in seiner Fähigkeit, eine umfassende Testlösung bereitzustellen. Es ist in der Lage, eine Verbindung zu einem Multiblock-Mainframe herzustellen, um eine skalierbare Lösung und den gleichzeitigen Zugriff auf mehrere Testhandles zu ermöglichen. IPT6000 unterstützt mehrere I/O-Konfigurationen wie USB, Ethernet und GPIB, die eine einfache Verbindung zu einer Vielzahl von Testgeräten ermöglichen. FITTECH IPT6000 bietet umfassende Lösungen für Produktionstest, Laborumgebung und eine Vielzahl von Forschungs- und Entwicklungsanwendungen. Seine erstklassige Leistung, hohe Geschwindigkeit und Genauigkeit garantieren zuverlässige Tests und schnelle Rendite.
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