Gebraucht FITTECH LFP6000 #293659505 zu verkaufen

Der FITECH FITTECH LFP6000 prober ist eine leistungsstarke Testlösung zur Sondierung empfindlicher Halbleitermaterialien, die zuverlässige und genaue Messwerte für die Charakterisierung von Halbleitermaterialien liefert. Ausgestattet mit einem 8-Achsen-Scankopf, der sich schnell zwischen Teststellen bewegt, ermöglicht der Prober eine automatisierte Sondierung von Materialien mit ultrafeinen Auflösungen bis zu 40 µm. Der Prober ist in der Lage, qualitativ hochwertige Datensätze mit wiederholbarer Genauigkeit und minimaler Drift in den Messwerten zu produzieren. Der FITECH LFP6000 Prober wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Materialien wie Silizium, Galliumnitrid, Aluminiumnitrid und sogar Spezialmaterialien wie Graphen zu testen. Der Prober verwendet ein Kontakt- und berührungsloses System, mit dem Benutzer Sonden schnell und präzise austauschen können. Der Prober bietet mehrere Funktionen wie Wafer-Scanning, Die-to-Die-Sondierung, Die-to-Package-Sondierung und die Messung elektrischer Parameter. Darüber hinaus weist der Prober einen Barcode-Scanner auf, der zum schnellen Lesen und Speichern von Waferinformationen und zur weiteren Verbesserung der Sondiergenauigkeit verwendet werden kann. Der Prober ist optimiert, um die Zykluszeit mit seiner schnellen Datenübertragungsrate zu reduzieren. Es verfügt auch über ein Vakuum-Spannsystem mit einem patentierten Vakuum-Halt, der eine enge und zuverlässige Probenausrichtung ermöglicht. Darüber hinaus hat der Prober eine Möglichkeit des manuellen oder automatischen Wafer-Ladevorgangs. Der automatische Waferbeladungsprozess ermöglicht eine höhere Genauigkeit und Wiederholbarkeit. FITTECH LFP6000 prober hat Inspektionsfunktionen eingebaut, um die Genauigkeit zu gewährleisten. Es verwendet eine Vielzahl von Messtechnik-Systeme und Vision-Systeme für die Inspektion und Validierung von Wafer und die Integrität. Zusätzlich ist der Prober mit einem In-situ-Defekt-Mikroskop ausgestattet, das eine automatisierte Abbildung von verdächtigen Defektbereichen vor der Sondierung ermöglicht. Insgesamt bietet der FITECH LFP6000 prober eine zuverlässige und genaue Lösung für Halbleitertest und -charakterisierung mit einer Vielzahl von Sondierungsfunktionen und Inspektionsmöglichkeiten. Es ist ein ideales Werkzeug, um neue und empfindliche Materialien mit den strengsten Anforderungen an Auflösung und Wiederholbarkeit zu charakterisieren.