Gebraucht ITC PB3500 #9190780 zu verkaufen

ITC PB3500 prober ist ein automatisierter Wafer-Prober zur Inspektion und Prüfung von Halbleiterchips in der Produktionslinie. Dieser modernste automatisierte Prober bietet qualitativ hochwertige Ergebnisse und eine überlegene Genauigkeit für die Prüfung und Inspektion von Halbleitern, die in einer Vielzahl von industriellen Anwendungen verwendet werden. PB3500 Wafer-Prober verfügt über eine einzigartige, präzise Tetra-Spannausrüstung. Dieses System verwendet vier unabhängige manuelle Klemmen, um den Wafer zu sichern, wodurch eine perfekt symmetrische Last auf jeder Seite des Wafers für eine überlegene Genauigkeit während der Prüfung und Inspektion gewährleistet ist. Darüber hinaus erhöht die patentierte elektrische Vorklemmeinheit des Probers die elektrische Kontaktqualität zwischen Proberkopf und Testkopf, was zu äußerst zuverlässigen Testergebnissen führt. Der Prober ist mit einer hochentwickelten, programmierbaren automatischen Nadelwechselmaschine ausgestattet. Mit diesem Tool können Benutzer schnell zwischen verschiedenen Sonden wechseln sowie mehrere Sonden in einer einzigen Operation aufnehmen und platzieren. Dadurch ist es möglich, mehrere Punkte auf einem Wafer schnell und genau zu testen, ohne die Sonden manuell wechseln zu müssen. ITC PB3500 Wafer Prober enthält auch eine erweiterte, benutzerfreundliche Software-Suite, die die Bedienung und Konfiguration des Probers vereinfacht. Diese Suite enthält eine leistungsstarke parametrische beschreibende Sprache (PDL), die programmiert werden kann, um den automatisierten Testprozess an die individuellen Anwendungsanforderungen anzupassen. Der Prober enthält auch eine hochreaktionsschnelle und präzise Multi-Achsen-Positionierung Asset. Dieses Modell ermöglicht es dem Prober, sich schnell zwischen den Kontaktpunkten zu bewegen und sicherzustellen, dass feinkörnige Tests genau durchgeführt werden können, mit minimaler Zeitverzögerung zwischen den Tests. Darüber hinaus wurde PB3500 entwickelt, um die Prüfung von Wafern mit verschiedenen Dicken, einschließlich Dünnschichtscheiben, sowie großen Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm zu unterstützen. Schließlich behält der Prober während seines gesamten Lebenszyklus ein beeindruckendes Maß an Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei, was die Möglichkeit von Testfehlern weiter reduziert. Mit seiner hohen Präzision, Zuverlässigkeit und Benutzerfreundlichkeit ist ITC PB3500 Wafer Prober ein Premium-Design für Halbleiterprüfung und -inspektion.