Gebraucht KARL SUSS / MICROTEC PA 200 #9254829 zu verkaufen

KARL RUß/MICROTEC PA 200 ist ein Prober, der für die hochpräzise Wafer-Sondierung und -Prüfung ausgelegt ist. Dieser Prober hat eine Vielzahl von Anwendungsmöglichkeiten, wie elektrische, optische und mechanische Charakterisierung von Halbleiterscheiben, Chips und Matrizen. MICROTEC PA 200 ist in der Lage, einzelne Sonden im Vakuum mit hochauflösender Bildgebung und elektrooptischer Steuerung zu messen. Es hat auch die Fähigkeit, schnell und genau zwischen verschiedenen Sonden zu wechseln, die auf einen Halbleiter aufgebracht werden können. KARL RUß PA-200 verfügt über eine vollautomatische Testumgebung mit XYZ-Positionierstufe. Diese Stufe ermöglicht eine hochpräzise Positionierung der Probe, so dass die Sonde die Probe genau berühren kann. Die XYZ-Stufe ist ebenfalls voll programmierbar und ermöglicht eine sehr wiederholbare Prüfung ohne ständige manuelle Überwachung. Es kommt auch mit einem automatisierten Planaritätsmessgerät ausgestattet, um einen präzisen Kontakt zwischen der Probe und der Sonde zu gewährleisten, auch auf Krümmungen. Der Prober ist in einem kompakten Gehäuse abgedeckt, das zur Minimierung von Vibrationen und Temperaturdrift ausgelegt ist. Diese reduzierte Vibration führt zu genaueren Ergebnissen. Der Prober verfügt zudem über eine hochwertige Wärmesteuerung. Dieses Gerät hilft, einen konstanten Temperaturbereich beizubehalten, so dass jeder zu testende Wafer nicht durch plötzliche Temperaturschwankungen beeinflusst wird. Die große Kammer kann eine Atmosphäre von Luft oder anderen Niedrigvakuumgasen enthalten. Dies ermöglicht saubere Messungen in verschiedenen Atmosphären. KARL RUß/MICROTEC PA-200 verfügt zudem über eine robuste elektrische Datenerfassungsmaschine. Dieses Werkzeug ist in der Lage, die Ein- und Ausgangsströme und Spannungen geschalteter integrierter Schaltungen auch bei hohen Frequenzen zu messen. Dies ermöglicht eine detaillierte Analyse der Komponenten auf dem getesteten Wafer oder Chip. Der Prober verfügt auch über eine Vielzahl von optischen Messsystemen. Diese Systeme können 3D-Topologie und Oberflächenelemente messen. Diese Anlage eignet sich zum Messen und Vergleichen der Höhe von Kontaktpads und Unebenheiten auf dem Chip zur Zuverlässigkeitsprüfung. Insgesamt ist PA-200 ein ausgezeichneter Prober, der für eine Vielzahl von Halbleiter-Wafer-Sondierungs- und Testanwendungen verwendet werden kann. Seine erweiterten Funktionen bieten zuverlässige und wiederholbare Messungen mit minimaler manueller Überwachung. Seine robusten elektrischen und optischen Messsysteme sind in der Lage, kritische Informationen über Chips und Wafer aufzudecken, die getestet werden. Der Prober ist auch in einem kompakten Gehäuse abgedeckt, das Vibrationen und Temperaturdrift minimiert. Die thermische Steuerung hilft dabei, einen konstanten Temperaturbereich aufrechtzuerhalten. Dies macht es sowohl für Luft als auch für andere Niedervakuumatmosphären geeignet. Dieser Prober ist ideal für Labore und andere hochpräzise Prüfanwendungen.