Gebraucht KARL SUSS / MICROTEC PA 300 #9112054 zu verkaufen

KARL RUß/MICROTEC PA 300 ist ein voll ausgestatteter bidirektionaler Prober für Wafertests und Sondierungen. Es ist in der Lage, bis zu drei Stellen gleichzeitig auf einer einzigen Matrize mit einer maximalen Wafergröße von 8 Zoll zu sondieren. Das Gerät besteht aus vier Hauptkomponenten: einer Proberbasis, einem eingebetteten PC-basierten Controller, einem Vision-System und einer X-Y-Proberbühne. Die Proberbasis unterstützt den Proberkopf und die Vision und umfasst die Bewegungssteuerungsmaschine und das Z-Achsen-Positionierwerkzeug. Das Motion Control Asset ist für die Positionierung und Vektorsteuerung der X-Y-Stufe verantwortlich, während das Z-Achsen-Positionierungsmodell in der Lage ist, eine präzise Z-Achsen-Steuerung für die Kopf- und Sehgeräte bereitzustellen. Der Proberkopf ist so konzipiert, dass er mit verschiedenen Sondenkarten für Wafer- und IC-Tests kompatibel ist und eine überlegene Genauigkeit und Wiederholgenauigkeit beim Positionieren der Sonde über einen Wafer bietet. Der integrierte PC-basierte Controller auf MICROTEC PA 300 verfügt über ein Windows-basiertes Betriebssystem, das die volle Benutzerkontrolle des Geräts ermöglicht. Es enthält auch eine grafische Benutzeroberfläche und Programmiersprache, um eine einfache Programmierung des Probers zu ermöglichen. Der Controller bietet auch die Möglichkeit, den Prober fernzusteuern, d.h. Benutzer können sich mit der Schnittstelle verbinden und Wafer-Tests und -Sondierungen aus der Ferne durchführen. Die Vision-Maschine auf KARL RUß PA300 bietet Anwendern umfassende Sichtfunktionen, sodass sie Wafer und Werkzeuge für die Fehleranalyse inspizieren können. Es verfügt auch über ein softwaregesteuertes Bildanalysetool, mit dem Benutzer Waferdefekte schnell erkennen und analysieren können. Schließlich umfasst MICROTEC PA300 eine empfindliche X-Y-Prober-Stufe, die eine dynamische Positionierung und ein Scannen mit wahlfreiem Zugriff ermöglicht, sodass Benutzer die Sonde genau über den Wafer positionieren und Daten von mehreren Punkten der Matrize sammeln können. Die Bühne verfügt auch über eine hochauflösende Anlage, die es einfach macht, die Topographie einer Matrize zu messen und einen erfolgreichen Tasterkontakt zu verifizieren. Insgesamt ist PA300 ein hochfähiger bidirektionaler Prober, der für Wafer- und IC-Tests ausgelegt ist. Es verfügt über eine Kombination aus einem Proberkopf, einem eingebetteten PC-basierten Controller und einem Vision-Modell sowie einer sensiblen X-Y-Bühne, um Benutzern eine zuverlässige Ausrüstung zum Sondieren eines Wafers und zum Sammeln von Daten bereitzustellen.