Gebraucht KARL SUSS / MICROTEC PA 300 #9356065 zu verkaufen
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KARL RUß/MICROTEC PA 300 ist ein Prober zur elektrischen und strukturellen Prüfung integrierter Schaltungen. Es wurde entwickelt, um elektrische Parameter wie Spannung, Strom, Widerstand, Kapazität, Induktivität, Leistung, Verzerrung, Frequenzgang und andere Leistungsmerkmale genau und wiederholbar zu messen und aufzuzeichnen. Der Prober eignet sich gut für eine Vielzahl von Anwendungsbereichen wie IC-Wafer-Sondierung, Flip-Chip-Sondierung, Produktbewertung, System-in-Package-Tests und Charakterisierung von HF-Komponenten. Der Prober bietet mit seinem mikroskopisch automatisierten Positioniersystem und seinen eingebauten Auflösungsfunktionen eine hervorragende Wiederholbarkeit und hohe Auflösung. Der geschlossene Waferhalter und Treiber kann Wafer verschiedener Durchmesser sowie Stücke verschiedener Größen und Formen handhaben. Diese Flexibilität und die Fähigkeit, die Sonden schnell und genau zu positionieren, ermöglichen es dem Gerät, mehrere Messungen durchzuführen und detaillierte Daten einfacher zu erfassen als manuelle Sondierungstechniken. MICROTEC PA 300 bietet einen Katalog automatisierter Sondierungsverfahren und Testanwendungen, so dass für die Prüfung mehrerer Standorte, elektrischer Bauelemente, Transistoren und anderer IC-Bauelemente keine Programmierung erforderlich ist. Darüber hinaus verfügt das Produkt über eine ergonomisch gestaltete Bedienkonsole, die einen einfachen Zugriff auf Einstellungen und eine einfache Bedienung ermöglicht. Eine optionale Vision-Option ermöglicht es dem Benutzer, das Mikroskop auf eine Weise anzupassen, die den Sondierungsprozess verbessert. Dazu gehören die Betrachtung jedes Gerätes und der Messfleck, mit dem die Ausrichtungszeit reduziert und präzise Ergebnisse erzielt werden können. KARL RUß PA300 ist ein idealer Prober für ein breites Anwendungsspektrum. Mit wiederholbaren Messergebnissen, automatisierten Prüfverfahren, ergonomischem Betrieb und flexiblem Design ist es ein hervorragendes Werkzeug für die elektrische und strukturelle Prüfung integrierter Schaltungen.
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