Gebraucht KLA / TENCOR 1007 #9012498 zu verkaufen

KLA/TENCOR 1007 ist eine hochmoderne Sondierungsanlage, die in automatisierten Fehlerinspektions- und messtechnischen Anwendungen eingesetzt wird. Es handelt sich um automatisierte, optische Mikroskopwerkzeuge, die für die Präzisionswafer-Niveauanalyse innerhalb der Halbleiterindustrie entwickelt wurden. Es ermöglicht eine schnelle Analyse der elektrischen Eigenschaften eines Halbleiterwafers ohne manuelle Manipulation und/oder Handhabung jeder Matrize. KLA 1007 prober verfügt über Funktionen wie 100 mm und 150 mm Wafer-Kompatibilität, Auto-Docking, automatisierte Standorterkennung, optimierter Probentransport, Pneumatik mit variabler Höhe, erweiterte Bildgebung und Werkzeugintegration von Drittanbietern. Der Prober ist in der Lage, extrem feine Auflösungsbilder des Wafers und der einzelnen Matrize für eine größere Analysetiefe zu sammeln. TENCOR 1007 ist entworfen, um eine Vielzahl von Substraten einschließlich Silizium-auf-Isolator, Gallium-Arsenid, Siliziumoxycarbid, Silizium-auf-Saphir und andere unterzubringen. Darüber hinaus ermöglicht sein flexibles Design eine Vielzahl von Temperaturschwankungen und ermöglicht Operationen von -45 ° C bis + 125 ° C. Die Fähigkeit, große Berylliumoxid (BeO) - und Saphir-Silizium (SaSi) -Wafer aufzunehmen, ist aufgrund ihrer Dicken ein wesentliches Merkmal dieses Probers. Das System bietet ein zuverlässiges und wiederholbares Ausrichtverfahren zur Inspektion jeder Matrize. 1007 bietet eine Plattform mit flexiblen Sondenkartenstilen und automatisierten Kontaktalgorithmen, um die Produktintegrität durch verbesserte Genauigkeit und Ausbeute sicherzustellen. Die eingebauten Verlängerungskabelbaugruppen reduzieren den Wartungsbedarf, während die 4-Finger-Betätigung höhere Durchsätze bei garantierter Positioniergenauigkeit ermöglicht. Mit dem integrierten Cam-iVision-Anwendungspaket ist das Gerät in der Lage, eine Vielzahl von präzisen Messungen durchzuführen und gleichzeitig eine Vielzahl von großformatigen Bildern zu sammeln. Das Cam-iVision-Paket bietet auch automatische Scanmodi, automatische Wafer-Kantenerkennung und Datenanalysefunktionen. Insgesamt bietet KLA/TENCOR 1007 Prober eine überlegene elektrische Fehlererkennung und messtechnische Leistung bei gleichzeitiger Straffung des Analyseprozesses. Als umfassende Maschine bietet sie eine breite Palette von Funktionen und Funktionen, die eine optimale Geräteleistung und Wafernutzung gewährleisten.