Gebraucht KLA / TENCOR 1007E #293828362 zu verkaufen

KLA/TENCOR 1007E ist ein Prober, der speziell für die Analyse und Prüfung verschiedener mikroelektronischer Komponenten entwickelt wurde. Es ist eine der funktionsreichsten Sondierungslösungen, die heute auf dem Markt erhältlich ist und ein beispielloses Maß an Integration, Automatisierung und Prozesskontrolle bietet. KLA 1007E prober wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Geräten zu analysieren, einschließlich MEMS/MOEMS, erweiterte Sensoren, Dioden, Transistoren, Kondensatoren, Induktivitäten und andere Komponenten. Es kann Komponenten mit einem Durchmesser von bis zu 40 mm analysieren und hat einen Durchsatz von bis zu 6.000 Wafern pro Stunde. Der Prober verfügt zudem über eine kontaktlose CPFL-Option, die genaue und wiederholbare Spannungsmessungen mit einem Spannungsbereich bis ± 1.500 Volt ermöglicht. Der Prober enthält eine Reihe fortschrittlicher Funktionen, um einen zuverlässigen Betrieb in anspruchsvollen Produktionsumgebungen zu gewährleisten. Der Prober ist temperaturkompensiert und kann bei Temperaturen von -40 ° C bis + 60 ° C (-40 ° F bis + 140 ° F) betrieben werden. Es verfügt auch über einen X/Y-Servomotor mit einer Auflösung von 0,0001mm und ist so konzipiert, dass er sich schnell und genau zum Ausrichten von Komponenten bewegt. Der Prober umfasst auch eine abnehmbare Wafer-Lastschloßkammer zum schnellen Be- und Entladen der Prüflinge. Darüber hinaus verfügt TENCOR 1007E prober über eine integrierte Benutzeroberfläche und eine Reihe leistungsfähiger Systemprogrammierwerkzeuge. Es bietet eine Reihe von Messroutinen und Automatisierungstools, die verwendet werden können, um Testprozesse anzupassen und die Wiederholbarkeit sicherzustellen. Es enthält auch einen integrierten OCR-Scanner, mit dem Komponenten vor dem Testen identifiziert werden können. 1007E prober ist eine hochentwickelte, zuverlässige und kostengünstige Sondierungslösung. Es wurde entworfen, um die Anforderungen sowohl der hohen als auch der niedrigen Serienumgebung zu erfüllen und eine effiziente und genaue Analyse von mikroelektronischen Komponenten zu gewährleisten.