Gebraucht KLA / TENCOR 1007HF #141211 zu verkaufen

KLA/TENCOR 1007HF Prober ist eine hochmoderne Wafer-Sondierungslösung zur Bereitstellung und Inspektion automatisierter Gerätetests auf Waferebene mit ungleicher Genauigkeit und Durchsatz. KLA 1007HF Prober bietet beispiellose Vorteile für Halbleiterhersteller, wie schnellere Testzeiten, höhere Genauigkeit und verbesserte Ertragsleistung. Es ist für hohe Auflösung und hohe Wiederholbarkeit konzipiert, so dass es die ideale Wahl für die Prozessentwicklung und Testcharakterisierung. TENCOR 1007HF Prober verfügt über eine bewährte, offene Architekturplattform, die den Test und die Charakterisierung einer Vielzahl von Wafertypen und komplexen Gerätestrukturen unterstützt. Es verwendet fortgeschrittene Sonden wie Pitch Control Wafer (PCWs), 2- bis 6-dimensionale Assembly Lane geschnittene Wafer (ASWs) und anwendungsspezifische integrierte Schaltungen (ASICs). 1007HF Prober unterstützt auch Einzel- und Multi-Hit-Tests mit mehreren Hochgeschwindigkeitsmustern. KLA einzigartige, niedrige elektrische Charakterisierungsfunktionen ermöglichen es Ingenieuren, auf Wafern gesammelte Daten mit Hochgeschwindigkeitsmessungen zu extrapolieren. KLA/TENCOR 1007HF Prober bietet eine Reihe robuster Testalgorithmen, die unabhängig von der Komplexität präzise Ergebnisse liefern. Darüber hinaus optimiert KLA 1007HF Prober den Testprozess durch die Unterstützung automatisierter Lade-, Entlade- und Sortierfunktionen. TENCOR leistungsfähige, geschlossene Sondenregelungstechnologie stellt sicher, dass Prüfschritte genau, wiederholbar und zuverlässig sind. TENCOR 1007HF Prober bietet eine softwaregesteuerte Lösung zur Bearbeitung von Wafer-Sondierungsanforderungen mit dem zusätzlichen Vorteil einer leistungsstarken softwarebasierten Scan-Beschleunigung. Dadurch kann der Anwender Scans für optimale Leistung und Erträge anpassen. 1007HF Prober verfügt über ein fortschrittliches Bildverarbeitungssystem mit einer Reihe erweiterter Bildverarbeitungsfunktionen. Dieses System erkennt genau Fehler, um sicherzustellen, dass nur die hochwertigsten Wafer getestet werden. Es misst und berichtet auch über kritische Bemaßungen, Adsets und Hintergrundeigenschaften. KLA/TENCOR 1007HF Prober ist hochflexibel und kann als Einzel- oder Mehrfachsonden-System konfiguriert werden, was eine unbegrenzte Skalierbarkeit und zusätzliche Leistung bietet. Seine kompakte Bauweise und modulare Konfiguration ermöglicht es, leicht und schnell für Spezialitäten wie 300mm Wafer-Prüfung und High-Power-Anwendungen modifiziert werden. KLA 1007HF Prober ist die ideale Wafer-Prober-Lösung für Halbleitergerätetests und eignet sich perfekt für Testlabore, die hohe Leistung und genaue Messungen erfordern.